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Kalibrier-Raster mit unterschiedlicher Stufenhöhe 629-10 - Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-20 Stufenhöhe: 20 nm ± 1,5 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
240,80 € *
Kalibrier-Raster mit unterschiedlicher Stufenhöhe 110nm +/- 2nm 629-20 - Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-100 Stufenhöhe: 110 nm ± 2 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
240,80 € *
Kalibrier-Raster mit unterschiedlicher Stufenhöhe 520nm +/- 3nm 629-30 - Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-500 Stufenhöhe: 520 nm ± 3 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
240,80 € *
Kalibrier-Raster, montiert auf 12 mm AFM-Scheibe 20nm +/- 1,5nm 629-10AFM - Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-20 Stufenhöhe: 20 nm ± 1,5 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
245,00 € *
Kalibrier-Raster, montiert auf 12 mm AFM-Scheibe 110nm +/- 2nm 629-20AFM - Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-20 Stufenhöhe: 110 nm ± 2 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
245,00 € *
Kalibrier-Raster, montiert auf 12 mm AFM-Scheibe 520nm +/- 3nm 629-30AFM - Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-500 Stufenhöhe: 520 nm ± 3 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
245,00 € *
Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch 642-1 - Glassubstrat 4 mm x 6 mm mit Aluminium-Linien
- periodische Strukturen nominal 145 nm / Linienhöhe ca. 100 nm
- Nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 1.242,06 € *
AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco) 16200 - PELCO® 15mm AFM Scheibenträger / PELCO® AFM Disc Pickup Tool
- 15-mm-AFM-Discs, nummeriert mit 9,9-mm-Mica-Discs (8 Stück) in einem 16214 PELCO®-Disc-Träger
- je 500 µl Goldkolloid 5 nm Bereich, 15 nm Bereich und 30 nm Bereich
- Poly-L-Lysin, 0,1%, 500 ul / Protokoll
119,00 € *
AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco) mit zusätzlichen 10 nm und 20 nm Goldkolloiden 16205 - PELCO® 15mm AFM Scheibenträger / PELCO® AFM Disc Pickup Tool
- 15-mm-AFM-Discs, nummeriert mit 9,9-mm-Mica-Discs (8 Stück) in einem 16214 PELCO®-Disc-Träger
- je 500 µl Goldkolloid der Größenbereiche 5 nm, 10 nm, 15 nm, 20 nm und 30 nm
- Poly-L-Lysin, 0,1%, 500 ul / Protokoll
336,00 € *
1-D Dreiecks-Test-Raster TGT-1500 (unmontiert) S629-40 - Kantenwinkel ca. 70° / Peakhöhe ca. 1,8 µm / Peak-zu-Peak Abstand (pitch) ca. 3 µm +/- 0,01 µm
- Si-Chipgröße = 5 mm x 5 mm / Effektive (zentrale) Rasterfläche ca. 3 mm x 3 mm
- Geeignet zum Test der X- oder Y-Achse
- Verpackungseinheit: 1 Stück
343,00 € *
AFM Kalibrierstandard für XYZ-Achse auf 12 mm ø AFM-Scheibe SCS-20NG - AFM-Kalibrierstandard für die XYZ-Achsen
- Stufenhöhe: 20 nm
- elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Preis auf Anfrage
Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch 1 Stück montiert auf AFM-Scheibe 12 mm ø 642-1AFM - Glassubstrat 4 mm x 6 mm mit Aluminium-Linien
- periodische Strukturen nominal 145 nm / Linienhöhe ca. 100 nm
- Montiert aus Stahlscheibe Ø 12 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 1.466,68 € *
1-D Dreiecks-Test-Raster TGT-1500 (auf AFM-Scheibe) für X- oder Y-Achse S629-40AFM - Si-Wafer mit eindimensionalem Dreiecksraster (1-D) in der obersten Schicht
- Kantenwinkel ca. 70° / Kantenradius ≤ 10 nm / Peakhöhe ca. 1,8 µm (Peak-zu-Tal, nicht kalibriert)
- Peak-zu-Peak Abstand (pitch) ca. 3 µm +/- 0,01 µm / Effektive (zentrale) Rasterfläche ca. 3 mm x 3 mm
- Montiert auf einer 12 mm Durchmesser AFM-Scheibe / Verpackungseinheit: 1 Stück
413,00 € *
3-D Test-Raster für Spitzenschärfe TGTZ-400 (unmontiert) S629-50 - 2-D Feld (2 mm x 2 mm) in der obersten Schicht mit sehr spitzen Peaks, Peakhöhe zwischen 0,3 µm und 0,7 µm
- Spitzenwinkel ca. 50° / Spitzenradius ≤ 10 nm / 2-D Peak-zu-Peak Abstand ca. 3 µm +/- 0,01 µm
- Diagonaler Peak-zu-Peak Abstand ca. 2,12 µm / Si-Chip Größe ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm
- Nicht auf einem Träger montiert / Verpackungseinheit: 1 Stück
887,60 € *
3-D Test-Raster für Spitzenschärfe TGTZ-400 (montiert auf AFM-Scheibe) S629-50AFM - 2-D Feld (2 mm x 2 mm) in der obersten Schicht mit sehr spitzen Peaks, Peakhöhe zwischen 0,3 µm und 0,7 µm
- Spitzenwinkel ca. 50° / Spitzenradius ≤ 10 nm / 2-D Peak-zu-Peak Abstand ca. 3 µm +/- 0,01 µm
- Diagonaler Peak-zu-Peak Abstand ca. 2,12 µm / Si-Chip Größe ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm
- Montiert auf einer 12 mm Durchmesser AFM-Scheibe / Verpackungseinheit: 1 Stück
697,90 € *
3-D Test-Raster TG3D 3000/600, Säulen (unmontiert) S629-60 - 2-D Feld mit 3-D Rechtecksäulen in der obersten Schicht / Säulenhöhe ca. 0,3 µm - 0,6 µm
- Obere 2-D-Säulenabmessung ca. 1,2 µm x 1,2 µm, nach unten hin scharf abgesetzte Kanten
- Eckenradius ≤ 10 nm / Periode (pitch) ca. 3 µm +/- 0,05 µm
- Nicht auf einem Träger montiert / Verpackungseinheit: 1 Stück
343,00 € *
3-D Test-Raster TG3D 3000/600, Säulen (montiert auf AFM-Scheibe) S629-60AFM - 2-D Feld mit 3-D Rechtecksäulen in der obersten Schicht / Säulenhöhe ca. 0,3 µm - 0,6 µm
- Obere 2-D-Säulenabmessung ca. 1,2 µm x 1,2 µm, nach unten hin scharf abgesetzte Kanten
- Eckenradius ≤ 10 nm / Periode (pitch) ca. 3 µm +/- 0,05 µm
- Montiert auf AFM-Scheibe Ø 12 mm / Verpackungseinheit: 1 Stück
413,00 € *
3-D Test-Raster TG3D-3000/20 Quadrate (unmontiert) S629-70 - 3-D Quadrate in SiO2 Schicht auf Si-Wafer Chip / Quadrathöhe ca. 20 nm +/- 1,5 nm
- Quadratgröße ca. 1,5 µm Kantenlänge +/- 0,15 µm / Periode (pitch) 3 µm +/- 0,05 µm
- Chipgröße ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm / Nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
806,40 € *
3-D Test-Raster TG3D-3000/20 Quadrate (montiert auf AFM-Scheibe) S629-70AFM - 3-D Quadrate in SiO2 Schicht auf Si-Wafer Chip / Quadrathöhe ca. 20 nm +/- 1,5 nm
- Quadratgröße ca. 1,5 µm Kantenlänge +/- 0,15 µm / Periode (pitch) 3 µm +/- 0,05 µm
- Chipgröße ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm / Montiert auf 12 mm Durchmesser AFM-Scheibe
- Verpackungseinheit: 1 Stück
622,00 € *
TipChecker für AFM-Sonden "Budget Sensors" TC1 - Chipgröße = nutzbare Fläche: 5 mm x 5 mm
- Material: Silizium-Wafer-Chip mit scharfkantiger Nanostruktur
- Aufgeklebt auf magnetische Scheibe Ø 12 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Preis auf Anfrage
AFM Spitzen- und Auflösungstestobjekt (Pelco) S628 - Silizium-Wafer-Chip 5 mm x 5 mm
- Mono-Layer von kolloidalen Cobalt-Partikeln
- Nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 203,00 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück montiert 20 nm 20 nm HS-20MG - AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 20 nm
- elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe
- Verpackungseinheit: 1 Stück
498,75 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse HS-100MG - AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 100 nm
- elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe
- Verpackungseinheit: 1 Stück
498,75 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück montiert 500 nm HS-500MG - AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 500 nm
- elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe
- Verpackungseinheit: 1 Stück
498,75 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück unmontiert 20 nm HS-20MG-UM - AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 20 nm
- nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
498,75 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück unmontiert 100 nm HS-100MG-UM - AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 100 nm
- nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
498,75 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück unmontiert 500 nm HS-500MG-UM - AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 500 nm
- nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
498,75 € *
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