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1-D Dreiecks-Test-Raster TGT-1500 (auf AFM-Scheibe) für X- oder Y-Achse 1-D Dreiecks-Test-Raster TGT-1500 (auf AFM-Scheibe) für X- oder Y-Achse S629-40AFM
  • Si-Wafer mit eindimensionalem Dreiecksraster (1-D) in der obersten Schicht 
  • Kantenwinkel ca. 70° / Kantenradius ≤ 10 nm / Peakhöhe ca. 1,8 µm (Peak-zu-Tal, nicht kalibriert)
  • Peak-zu-Peak Abstand (pitch) ca. 3 µm +/- 0,01 µm / Effektive (zentrale) Rasterfläche ca. 3 mm x 3 mm
  • Montiert auf einer 12 mm Durchmesser AFM-Scheibe / Verpackungseinheit: 1 Stück
413,00 € *
TipChecker für AFM-Sonden "Budget Sensors" TipChecker für AFM-Sonden "Budget Sensors" TC1
  • Chipgröße = nutzbare Fläche: 5 mm x 5 mm
  • Material: Silizium-Wafer-Chip mit scharfkantiger Nanostruktur
  • Aufgeklebt auf magnetische Scheibe Ø 12 mm
  • Verpackungseinheit: 1 Stück

Preis auf Anfrage

AFM Kalibrierstandard für XYZ-Achse auf 12 mm ø AFM-Scheibe AFM Kalibrierstandard für XYZ-Achse auf 12 mm ø AFM-Scheibe SCS-20NG
  • AFM-Kalibrierstandard für die XYZ-Achsen
  • Stufenhöhe: 20 nm
  • elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe 
  • Verpackungseinheit: 1 Stück

Preis auf Anfrage

Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch 642-1
  • Glassubstrat 4 mm x 6 mm mit Aluminium-Linien
  • periodische Strukturen nominal 145 nm / Linienhöhe ca. 100 nm
  • Nicht auf Träger montiert
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
1.182,56 € *
Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch 1 Stück montiert auf AFM-Scheibe 12 mm ø Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch 1 Stück montiert auf AFM-Scheibe 12 mm ø 642-1AFM
  • Glassubstrat 4 mm x 6 mm mit Aluminium-Linien
  • periodische Strukturen nominal 145 nm / Linienhöhe ca. 100 nm
  • Montiert aus Stahlscheibe Ø 12 mm
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
1.182,56 € *
3-D Test-Raster TG3D 3000/600, Säulen (montiert auf AFM-Scheibe) 3-D Test-Raster TG3D 3000/600, Säulen (montiert auf AFM-Scheibe) S629-60AFM
  • 2-D Feld mit 3-D Rechtecksäulen in der obersten Schicht / Säulenhöhe ca. 0,3 µm - 0,6 µm
  • Obere 2-D-Säulenabmessung ca. 1,2 µm x 1,2 µm, nach unten hin scharf abgesetzte Kanten
  • Eckenradius ≤ 10 nm / Periode (pitch) ca. 3 µm +/- 0,05 µm
  • Montiert auf AFM-Scheibe Ø 12 mm /  Verpackungseinheit: 1 Stück
413,00 € *
3-D Test-Raster für Spitzenschärfe TGTZ-400 (unmontiert) 3-D Test-Raster für Spitzenschärfe TGTZ-400 (unmontiert) S629-50
  • 2-D Feld (2 mm x 2 mm) in der obersten Schicht mit sehr spitzen Peaks, Peakhöhe zwischen 0,3 µm und 0,7 µm
  • Spitzenwinkel ca. 50° / Spitzenradius ≤ 10 nm / 2-D Peak-zu-Peak Abstand ca. 3 µm +/- 0,01 µm
  • Diagonaler Peak-zu-Peak Abstand ca. 2,12 µm / Si-Chip Größe ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm
  • Nicht auf einem Träger montiert / Verpackungseinheit: 1 Stück
788,00 € *
3-D Test-Raster TG3D-3000/20 Quadrate (montiert auf AFM-Scheibe) 3-D Test-Raster TG3D-3000/20 Quadrate (montiert auf AFM-Scheibe) S629-70AFM
  • 3-D Quadrate in SiO2 Schicht auf Si-Wafer Chip / Quadrathöhe ca. 20 nm +/- 1,5 nm
  • Quadratgröße ca. 1,5 µm Kantenlänge +/- 0,15 µm / Periode (pitch) 3 µm +/- 0,05 µm
  • Chipgröße ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm / Montiert auf 12 mm Durchmesser AFM-Scheibe
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
622,00 € *
1-D Dreiecks-Test-Raster TGT-1500 (unmontiert) 1-D Dreiecks-Test-Raster TGT-1500 (unmontiert) S629-40
  • Kantenwinkel ca. 70° / Peakhöhe ca. 1,8 µm / Peak-zu-Peak Abstand (pitch) ca. 3 µm +/- 0,01 µm
  • Si-Chipgröße = 5 mm x 5 mm / Effektive (zentrale) Rasterfläche ca. 3 mm x 3 mm
  • Geeignet zum Test der X- oder Y-Achse
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
298,00 € *
Kalibrier-Raster, montiert auf 12 mm AFM-Scheibe TGZ-20 20 nm Kalibrier-Raster, montiert auf 12 mm AFM-Scheibe TGZ-20 20 nm S629-10AFM
  • Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
  • TGZ-20 Stufenhöhe: 20 nm ± 1,5 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
  • Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
227,00 € *
Kalibrier-Raster, montiert auf 12 mm AFM-Scheibe TGZ-500 520 nm Kalibrier-Raster, montiert auf 12 mm AFM-Scheibe TGZ-500 520 nm S629-30AFM
  • Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
  • TGZ-500 Stufenhöhe: 520 nm ± 3 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
  • Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
227,00 € *
Kalibrier-Raster, montiert auf 12 mm AFM-Scheibe TGZ-100 110 nm Kalibrier-Raster, montiert auf 12 mm AFM-Scheibe TGZ-100 110 nm S629-20AFM
  • Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
  • TGZ-100 Stufenhöhe: 110 nm ± 2 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
  • Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
227,00 € *
Kalibrier-Raster, unmontiert Kalibrier-Raster, unmontiert S629-10
  • Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
  • TGZ-20 Stufenhöhe: 20 nm ± 1,5 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
  • Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
218,00 € *
AFM Spitzen- und Auflösungstestobjekt (Pelco) AFM Spitzen- und Auflösungstestobjekt (Pelco) S628
  • Silizium-Wafer-Chip 5 mm x 5 mm
  • Mono-Layer von kolloidalen Cobalt-Partikeln
  • Nicht auf Träger montiert
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 188,00 € *
AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco) mit zusätzlichen 10 nm und 20 nm Goldkolloiden AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco) mit zusätzlichen 10 nm und 20 nm Goldkolloiden 16205
  • PELCO® 15mm AFM Scheibenträger / PELCO® AFM Disc Pickup Tool
  • 15-mm-AFM-Discs, nummeriert mit 9,9-mm-Mica-Discs (8 Stück) in einem 16214 PELCO®-Disc-Träger
  • je 500 µl Goldkolloid der Größenbereiche 5 nm, 10 nm, 15 nm, 20 nm und 30 nm 
  • Poly-L-Lysin, 0,1%, 500 ul / Protokoll
309,00 € *
AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco) AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco) 16200
  • PELCO® 15mm AFM Scheibenträger / PELCO® AFM Disc Pickup Tool
  • 15-mm-AFM-Discs, nummeriert mit 9,9-mm-Mica-Discs (8 Stück) in einem 16214 PELCO®-Disc-Träger
  • je 500 µl Goldkolloid 5 nm Bereich, 15 nm Bereich und 30 nm Bereich 
  • Poly-L-Lysin, 0,1%, 500 ul / Protokoll
111,00 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück montiert 20 nm 20 nm AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück montiert 20 nm 20 nm HS-20MG
  • AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
  • Stufenhöhe: 20 nm
  • elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe 
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
308,00 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse HS-100MG
  • AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
  • Stufenhöhe: 100 nm
  • elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe 
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
308,00 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück montiert 500 nm AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück montiert 500 nm HS-500MG
  • AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
  • Stufenhöhe: 500 nm
  • elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe 
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
308,00 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück unmontiert 20 nm AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück unmontiert 20 nm HS-20MG-UM
  • AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
  • Stufenhöhe: 20 nm
  • nicht auf Träger montiert
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
308,00 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück unmontiert 100 nm AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück unmontiert 100 nm HS-100MG-UM
  • AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
  • Stufenhöhe: 100 nm
  • nicht auf Träger montiert
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
308,00 € *
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück unmontiert 500 nm AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse 1 Stück unmontiert 500 nm HS-500MG-UM
  • AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
  • Stufenhöhe: 500 nm
  • nicht auf Träger montiert
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
308,00 € *
3-D Test-Raster für Spitzenschärfe TGTZ-400 (montiert auf AFM-Scheibe) 3-D Test-Raster für Spitzenschärfe TGTZ-400 (montiert auf AFM-Scheibe) S629-50AFM
  • 2-D Feld (2 mm x 2 mm) in der obersten Schicht mit sehr spitzen Peaks, Peakhöhe zwischen 0,3 µm und 0,7 µm
  • Spitzenwinkel ca. 50° / Spitzenradius ≤ 10 nm / 2-D Peak-zu-Peak Abstand ca. 3 µm +/- 0,01 µm
  • Diagonaler Peak-zu-Peak Abstand ca. 2,12 µm / Si-Chip Größe ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm
  • Montiert auf einer 12 mm Durchmesser AFM-Scheibe / Verpackungseinheit: 1 Stück
635,00 € *
3-D Test-Raster TG3D 3000/600, Säulen (unmontiert) 3-D Test-Raster TG3D 3000/600, Säulen (unmontiert) S629-60
  • 2-D Feld mit 3-D Rechtecksäulen in der obersten Schicht / Säulenhöhe ca. 0,3 µm - 0,6 µm
  • Obere 2-D-Säulenabmessung ca. 1,2 µm x 1,2 µm, nach unten hin scharf abgesetzte Kanten
  • Eckenradius ≤ 10 nm / Periode (pitch) ca. 3 µm +/- 0,05 µm
  • Nicht auf einem Träger montiert /  Verpackungseinheit: 1 Stück
396,00 € *
3-D Test-Raster TG3D-3000/20 Quadrate (unmontiert) 3-D Test-Raster TG3D-3000/20 Quadrate (unmontiert) S629-70
  • 3-D Quadrate in SiO2 Schicht auf Si-Wafer Chip / Quadrathöhe ca. 20 nm +/- 1,5 nm
  • Quadratgröße ca. 1,5 µm Kantenlänge +/- 0,15 µm / Periode (pitch) 3 µm +/- 0,05 µm
  • Chipgröße ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm / Nicht auf Träger montiert
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
629,00 € *
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