PLANOTEC - Si - Testobjekt mit 10 Mikrometer - pitch Gitter

Dieses Testobjekt aus einkristallinem Silizium ist 5 mm x 5 mm groß und weist durch Elektronenstrahl geformte, klar sichtbare Quadrate mit einer Periodizität ( pitch ) von 9,87 µm ± 0,05 µm auf. Die im Bild sichtbaren Linien sind Gräben mit einer Tiefe von ca. 300 nm ( kann bei einer neuen Charge von diesem Wert etwas abweichen ). Die Trennlinien sind etwa 1,9 µm breit; breiter und vorteilhaft für die Lichtmikroskopie sind Markierungslinien im Abstand von 500 µm. Es eignet sich bestens zum Vergrößerungsvergleich und zur Feststellung von Bildverzeichnungen, insbesondere auch bei automatisierten Zähleinrichtungen. Wo kritische Messungen ausgeführt werden müssen, kann die Probe direkt auf das Silizium-Quadrat montiert werden; somit ist der Maßstab auf der Abbildung zu sehen.

PLANOTEC-Silizium-Testobjekt-mit-10-um-pitch-Gitter

 

 

 

 

 

 

Eichzertifikat 10 µm - pitch Gitter

Für die PLANOTEC - Silizium - Testobjekte ( ab S1932 ) kann folgendes Eichzertifikat geliefert werden = Art. - Nr. S1962

Dieses Testobjekt aus einkristallinem Silizium ist 5 mm x 5 mm groß und weist durch Elektronenstrahl geformte, klar sichtbare Quadrate mit einer Periodizität ( pitch ) von 9,87 µm ± 0,05 µm auf.... mehr erfahren »
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PLANOTEC - Si - Testobjekt mit 10 Mikrometer - pitch Gitter

Dieses Testobjekt aus einkristallinem Silizium ist 5 mm x 5 mm groß und weist durch Elektronenstrahl geformte, klar sichtbare Quadrate mit einer Periodizität ( pitch ) von 9,87 µm ± 0,05 µm auf. Die im Bild sichtbaren Linien sind Gräben mit einer Tiefe von ca. 300 nm ( kann bei einer neuen Charge von diesem Wert etwas abweichen ). Die Trennlinien sind etwa 1,9 µm breit; breiter und vorteilhaft für die Lichtmikroskopie sind Markierungslinien im Abstand von 500 µm. Es eignet sich bestens zum Vergrößerungsvergleich und zur Feststellung von Bildverzeichnungen, insbesondere auch bei automatisierten Zähleinrichtungen. Wo kritische Messungen ausgeführt werden müssen, kann die Probe direkt auf das Silizium-Quadrat montiert werden; somit ist der Maßstab auf der Abbildung zu sehen.

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Eichzertifikat 10 µm - pitch Gitter

Für die PLANOTEC - Silizium - Testobjekte ( ab S1932 ) kann folgendes Eichzertifikat geliefert werden = Art. - Nr. S1962

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PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf ½-Zoll-Stiftprobenteller mit 8 mm Stift PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10... S1932
Dieses Testobjekt aus einkristallinem Silizium ist 5 mm x 5 mm groß und weist durch Elektronenstrahl geformte, klar sichtbare Quadrate mit einer Periodizität (pitch) von 9,87 µm ± 0,05 µm auf. Die im Bild sichtbaren Linien sind Gräben...
37,25 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf Lichtmikroskop Metall-Objektträger PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10... S1934
Dieses Testobjekt aus einkristallinem Silizium ist 5 mm x 5 mm groß und weist durch Elektronenstrahl geformte, klar sichtbare Quadrate mit einer Periodizität (pitch) von 9,87 µm ± 0,05 µm auf. Die im Bild sichtbaren Linien sind Gräben...
46,80 € *
Zertifikat der Fa. AGAR Scientific für Siliziumtestobjekt (S1932ff.) 1 Stück Zertifikat der Fa. AGAR Scientific für... S1962
Für die PLANOTEC-Silizium-Testobjekte (ab S1932)
444,00 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (unmontiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück 5 mm x 5 mm ohne PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (unmontiert) mit... S1930
Dieses Testobjekt aus einkristallinem Silizium ist 5 mm x 5 mm groß und weist durch Elektronenstrahl geformte, klar sichtbare Quadrate mit einer Periodizität (pitch) von 9,87 µm ± 0,05 µm auf. Die im Bild sichtbaren Linien sind Gräben...
35,90 € *
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