AFM Spitzen- und Auflösungstestobjekt (Pelco), unmontiert

Diese Referenzprobe ist speziell zur Überprüfung der Schärfe von AFM-Spitzen entwickelt (nicht für die Höhenkalibrierung). Mit der Zeit können AFM-Spitzen abnutzen oder beschädigt werden – das führt zu unscharfen oder verzerrten Linien, besonders im Nanometerbereich. Ein abgenutzter Taster zeigt beispielsweise Kobaltpartikel oval statt rund an.

Die Probe unterstützt Anwender dabei, sicher im Nanoscale-Bereich zu arbeiten: Dank der gleichmäßigen Verteilung von Kobaltpartikeln ist sofort erkennbar, welche Strukturen zu erwarten sind. Eine einzelne Lage von Kobaltpartikeln bildet ein stabiles und zuverlässiges Substrat für die Charakterisierung von AFM-Spitzen und den Instrumentenbetrieb.

Das beigefügte Beispielbild zeigt die Höhenkalibrierung bei 1 nm (rote Linie) und 3 nm (grüne Linie) – ein deutlicher Indikator für eine scharfe Spitze. Die Probe kann auch in Wasser verwendet werden, solange keine Chemikalien enthalten sind, die mit dem Substrat oder den Kobaltpartikeln reagieren würden.

Die Kobaltpartikel selbst sind abgeflachte Halbkugeln (Tröpfchen), deren Radius in der Regel größer als die Höhe ist. Die Partikelhöhen variieren zwischen 1 und 5 nm. Während die gemessene Breite stark von der jeweiligen AFM-Spitze abhängt, bleiben die Partikel stets rund.

• Prüft zuverlässig die AFM-Spitzenschärfe
  
• Nanostruktur-Referenz mit Kobaltpartikeln (1–5 nm)
  
• Für Tip-Charakterisierung bis in den Ångström-Bereich
  
• Erhältlich auf 5×5 mm Siliziumwaferchips – unmontiert oder montiert auf 12 mm Edelstahlträgern
  
• Ready-to-Scan: sofort einsatzbereit für Ihre Messungen
  
• Stabil, gleichmäßig und für reproduzierbare Ergebnisse geeignet
  
• Mono-Layer von kolloidalen Cobalt-Partikeln