CDMS - XY Critical Dimension Magnification Standard
Einfach zu bedienen und sehr nützlich für schnelle und präzise SEM-, FESEM-, FIB-, CD-SEM-, LM- und AFM-Vergrößerungskalibrierung. Skalenlinien sind sowohl in der X- als auch in der Y-Achse vorhanden, um die 2-Achsen-Kalibrierung ohne Drehung des Objekttisches zu erleichtern.
Voll ausgestattete und rückführbare Kalibrierstandards für einen großen Messbereich. Sie werden unter Verwendung der neuesten Halbleiter- und MEMS-Fertigungstechniken hergestellt, die eine hervorragende Linienkantenqualität ermöglichen.
CDMS - XY Critical Dimension Magnification Standard Einfach zu bedienen und sehr nützlich für schnelle und präzise SEM-, FESEM-, FIB-, CD-SEM-, LM- und...
mehr erfahren » Fenster schließen CDMS - XY Critical Dimension Magnification Standard
Einfach zu bedienen und sehr nützlich für schnelle und präzise SEM-, FESEM-, FIB-, CD-SEM-, LM- und AFM-Vergrößerungskalibrierung. Skalenlinien sind sowohl in der X- als auch in der Y-Achse vorhanden, um die 2-Achsen-Kalibrierung ohne Drehung des Objekttisches zu erleichtern.
Voll ausgestattete und rückführbare Kalibrierstandards für einen großen Messbereich. Sie werden unter Verwendung der neuesten Halbleiter- und MEMS-Fertigungstechniken hergestellt, die eine hervorragende Linienkantenqualität ermöglichen.
