Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse. Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie. Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien. Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.EigenschaftenSpeziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickeltNummerierte Pins zur eindeutigen ProbenidentifikationDefinierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren AufnahmezapfenGeeignet für TEM-Probenpräparation und NanomanipulationTechnische DatenMaterial: MolybdänAnzahl der Posts (Zapfen): 2Dicke: 50 µm +/- 5 µmAbmessungen der Zapfen: 250 x 50 x 190 µm (B x T x H)Spitzenform: V-förmigVerpackungseinheit: 25 Stück

Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse. Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie. Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien. Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.EigenschaftenSpeziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickeltDrei präzisionsgefertigte Aufnahmezapfen (3 Posts)Nummerierte Pins zur eindeutigen ProbenidentifikationDefinierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren AufnahmezapfenAus hochwertigem Kupfer (Cu)Geeignet für TEM-Probenpräparation und NanomanipulationTechnische DatenMaterial: KupferAnzahl der Posts (Zapfen): 2Abmessung Zapfen: 250 x 35 x 190µm Spitzenform: V-förmigVerpackungseinheit: 100 Stück

Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse. Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie. Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien. Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.EigenschaftenSpeziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickeltNummerierte Pins zur eindeutigen ProbenidentifikationDefinierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren AufnahmezapfenAus hochwertigem Kupfer (Cu)Geeignet für TEM-Probenpräparation und NanomanipulationTechnische DatenMaterial: KupferAnzahl der Posts (Zapfen): 1Maße des Zapfen: 80 µm Breite x 200 µm LängeShelf-Breite: 20 µmVerpackungseinheit: 100 Stück

Apiezon NAP303 ist ein Schmieröl auf Polyolesterbasis für konventionelle Lager in Turbomolekularpumpen. Es bietet gute Schmierfähigkeit, hohe Alterungsbeständigkeit und einen niedrigen Dampfdruck – für eine zuverlässige Lagerschmierung bei typischen Betriebstemperaturen von Turbopumpen.Ihre VorteileGute Schmierfähigkeit: für schnell laufende Lager mit geringer Lagerbelastung.Niedriger Dampfdruck: reduziert die Verdampfungsneigung im Betrieb.Lange Gebrauchsdauer: durch gute Beständigkeit gegen Alterung.Silikon- und halogenfrei: klar definierte Produkteigenschaften für die Auswahl Ihres Betriebsmittels.AnwendungApiezon NAP303 eignet sich für Turbomolekularpumpen mit konventionellen Lagern, die ein niedrigviskoses Schmieröl mit geringem Dampfdruck benötigen. Beachten Sie bei der Auswahl die Vorgaben Ihres Pumpenherstellers.Der Hersteller empfiehlt, das Öl vor dem Einsatz zu entgasen, um die Abpumpzeit zu verkürzen und Schaumbildung vorzubeugen.Bestellen Sie Apiezon NAP303 im 1-Liter-Gebinde für Ihre nächste Pumpenwartung.