Es gibt eine große Auswahl an hochwertigen Blenden, die speziell für den Einsatz in Raster- und Transmissionselektronenmikroskopen (SEM, FESEM und TEM), Mikrosonden Systemen, fokussierten Ionenstrahlen (FIB) und Röntgensystemen entwickelt wurden. Die Blenden werden mit hochpräzisen Bohrungen und mit optimierter Form hergestellt, um Streuungen zu vermeiden. Sie werden mit engen Toleranzen nach den Entwürfen des Originalhersteller gefertigt, vor gereinigt und einzeln verpackt. Die Blenden werden entweder als Spray-Blenden in Elektronenstrahlsäulen, als Begrenzungsaperturen oder als Endaperturen für Objektivlinsen, die mit einem Apertur Wechsler ausgestattet sind, verwendet. Sie sind in Pt / Ir (95/5%), Mo und Au (für einige Größen) erhältlich. Die Pt / Ir-Öffnungen können mit Flammen- oder Heizgeräten gereinigt werden. Molybdänblenden, die unter atmosphärischen Bedingungen gelagert werden, oxidieren schnell. Für Mo-Blenden kann nur eine Haltbarkeit von 4-6 Wochen nach Lieferung garantiert werden. Die kleinste Bohrung für Pt / Ir-Blenden beträgt 5 µm, für Mo-Blenden 10 µm. Die Blenden sind für alle gängigen Marken der EM-Systemhersteller erhältlich, einschließlich FEI / Philips, JEOL, Hitachi, ZEISS / LEO, Cameca, Topcon und Tescan. Wir führen auch Blendengrößen für Marken, die nicht mehr hergestellt, jedoch noch verwendet werden (ISI / ABT, CamScan, Cambridge Instruments / Leica, Siemens, BalScan, ETEC / Autoscan, SEMCO / ZEISS Novascan und Nanolab).

Es gibt eine große Auswahl an hochwertigen Blenden, die speziell für den Einsatz in Raster- und Transmissionselektronenmikroskopen (SEM, FESEM und TEM), Mikrosonden Systemen, fokussierten Ionenstrahlen (FIB) und Röntgensystemen entwickelt wurden. Die Blenden werden mit hochpräzisen Bohrungen und mit optimierter Form hergestellt, um Streuungen zu vermeiden. Sie werden mit engen Toleranzen nach den Entwürfen des Originalhersteller gefertigt, vor gereinigt und einzeln verpackt. Die Blenden werden entweder als Spray-Blenden in Elektronenstrahlsäulen, als Begrenzungsaperturen oder als Endaperturen für Objektivlinsen, die mit einem Apertur Wechsler ausgestattet sind, verwendet. Sie sind in Pt / Ir (95/5%), Mo und Au (für einige Größen) erhältlich. Die Pt / Ir-Öffnungen können mit Flammen- oder Heizgeräten gereinigt werden. Molybdänblenden, die unter atmosphärischen Bedingungen gelagert werden, oxidieren schnell. Für Mo-Blenden kann nur eine Haltbarkeit von 4-6 Wochen nach Lieferung garantiert werden. Die kleinste Bohrung für Pt / Ir-Blenden beträgt 5 µm, für Mo-Blenden 10 µm. Die Blenden sind für alle gängigen Marken der EM-Systemhersteller erhältlich, einschließlich FEI / Philips, JEOL, Hitachi, ZEISS / LEO, Cameca, Topcon und Tescan. Wir führen auch Blendengrößen für Marken, die nicht mehr hergestellt, jedoch noch verwendet werden (ISI / ABT, CamScan, Cambridge Instruments / Leica, Siemens, BalScan, ETEC / Autoscan, SEMCO / ZEISS Novascan und Nanolab).

Für eine der häufigsten Glimmentladungsanwendungen, bei denen TEM-Trägerfilme oder -Netzchen mit Luft hydrophil gemacht werden, verwendet der PELCO easiGlow™ einen automatisierten und schnellen Zyklus mit vollständig aus wählbaren Parametern. Das mikroprozessorgesteuerte System bietet außerdem eine vollständige manuelle Steuerung aller Parameter und eine erweiterte Protokollprogrammierungsfunktion für kundenspezifische Glimmentladungsanwendungen. Parameter und Protokolle können gespeichert werden, um konsistente Ergebnisse der Glimmentladung zu ermöglichen. Dieses Gerät zeichnet sich durch eine sehr einfache Installation und Bedienung (Handhabung) aus. Das PELCO easiGlow™ Glimmentladungs-Reinigungssystem ist ein kompaktes, schnelles und einfach zu verwendendes Standalone-System. Es ist in erster Linie für die Reinigung von TEM-Netzchen und die Hydrophilisierung von TEM-Kohlenstoffträgerfilmen vorgesehen, die zur Hydrophobierung neigen. Bei einer Glimmentladungsbehandlung mit Luft wird die Oberfläche des Kohlenstofffilms negativ geladen (hydrophil), wodurch sich wässrige Lösungen leicht verteilen können.  Bei immer anspruchsvolleren Imaging-Anwendungen ist die Verwendung von sauberen und qualitativ gleich bleibenden TEM-Netzchen und -Trägern wichtiger denn je. Die Glimmentladungsbehandlung von TEM-Netzchen entfernt adsorbierte Kohlenwasserstoffe, reinigt sie und macht sie hydrophil. Das PELCO easiGlow™ ist ein kostengünstiges und einfach zu bedienendes Glimmentladungssystem für jedes TEM-Labor. Die praktische Kammergröße mit neu gestaltetem Glimmentladungskopf und verstellbarem Tisch mit Objektträgerhalter aus Glas ermöglicht einfaches Beladen und schnelle Durchlaufzeiten. Das System ist vollständig mikroprozessorgesteuert und enthält ein intelligentes Touchscreen-Gerät zur Steuerung und Anzeige von Betriebsparametern. Der PELCO easiGlow™ unterstützt sowohl die hydrophile als auch die hydrophobe Behandlung mit negativer oder positiver Ladung und umfasst zwei separat gesteuerte Gaseinlässe. Das erforderliche Vakuumniveau wird durch ein elektronisch gesteuertes Präzisions-Proportionalventil eingestellt. Dieser neuartige Ansatz eliminiert die manuelle Einstellung mit einem Nadelventil. Ein schonender Be- / Entlüftungsvorgang stellt sicher, dass TEM-Netzchen beim Be- / Entlüften des Systems nicht örtlich verlagert werden. Vorteile des PELCO easiGlow™ Systems Optimiert für die Reinigung und Hydrophilierung von TEM-Netzchen Präzise und einfache Vakuumeinstellung Kurze Taktzeiten Konsistente Ergebnisse Automatischer, programmierbarer sowie manueller Modus Intuitiver Touchscreen zur Anzeige und Bedienung Unterstützt hydrophile / hydrophobe und negative / positive Modi Erschwingliches, kompaktes, eigenständiges System Optimiert für die Reinigung von TEM-NetzchenPräzise und einfache Vakuumeinstellungkurze ZykluszeitenKonsistente Ergebnisse Automatischer, programmierter und manueller ModusIntuitiver Touchscreen für Anzeige und BedienungUnterstützt hydrophile/hydrophobe und negative/positive ModiErschwingliches, kompaktes, eigenständiges System

Es gibt eine große Auswahl an hochwertigen Blenden, die speziell für den Einsatz in Raster- und Transmissionselektronenmikroskopen (SEM, FESEM und TEM), Mikrosonden Systemen, fokussierten Ionenstrahlen (FIB) und Röntgensystemen entwickelt wurden. Die Blenden werden mit hochpräzisen Bohrungen und mit optimierter Form hergestellt, um Streuungen zu vermeiden. Sie werden mit engen Toleranzen nach den Entwürfen des Originalhersteller gefertigt, vor gereinigt und einzeln verpackt. Die Blenden werden entweder als Spray-Blenden in Elektronenstrahlsäulen, als Begrenzungsaperturen oder als Endaperturen für Objektivlinsen, die mit einem Apertur Wechsler ausgestattet sind, verwendet. Sie sind in Pt / Ir (95/5%), Mo und Au (für einige Größen) erhältlich. Die Pt / Ir-Öffnungen können mit Flammen- oder Heizgeräten gereinigt werden. Molybdänblenden, die unter atmosphärischen Bedingungen gelagert werden, oxidieren schnell. Für Mo-Blenden kann nur eine Haltbarkeit von 4-6 Wochen nach Lieferung garantiert werden. Die kleinste Bohrung für Pt / Ir-Blenden beträgt 5 µm, für Mo-Blenden 10 µm. Die Blenden sind für alle gängigen Marken der EM-Systemhersteller erhältlich, einschließlich FEI / Philips, JEOL, Hitachi, ZEISS / LEO, Cameca, Topcon und Tescan. Wir führen auch Blendengrößen für Marken, die nicht mehr hergestellt, jedoch noch verwendet werden (ISI / ABT, CamScan, Cambridge Instruments / Leica, Siemens, BalScan, ETEC / Autoscan, SEMCO / ZEISS Novascan und Nanolab).

Es gibt eine große Auswahl an hochwertigen Blenden, die speziell für den Einsatz in Raster- und Transmissionselektronenmikroskopen (SEM, FESEM und TEM), Mikrosonden Systemen, fokussierten Ionenstrahlen (FIB) und Röntgensystemen entwickelt wurden. Die Blenden werden mit hochpräzisen Bohrungen und mit optimierter Form hergestellt, um Streuungen zu vermeiden. Sie werden mit engen Toleranzen nach den Entwürfen des Originalhersteller gefertigt, vor gereinigt und einzeln verpackt. Die Blenden werden entweder als Spray-Blenden in Elektronenstrahlsäulen, als Begrenzungsaperturen oder als Endaperturen für Objektivlinsen, die mit einem Apertur Wechsler ausgestattet sind, verwendet. Sie sind in Pt / Ir (95/5%), Mo und Au (für einige Größen) erhältlich. Die Pt / Ir-Öffnungen können mit Flammen- oder Heizgeräten gereinigt werden. Molybdänblenden, die unter atmosphärischen Bedingungen gelagert werden, oxidieren schnell. Für Mo-Blenden kann nur eine Haltbarkeit von 4-6 Wochen nach Lieferung garantiert werden. Die kleinste Bohrung für Pt / Ir-Blenden beträgt 5 µm, für Mo-Blenden 10 µm. Die Blenden sind für alle gängigen Marken der EM-Systemhersteller erhältlich, einschließlich FEI / Philips, JEOL, Hitachi, ZEISS / LEO, Cameca, Topcon und Tescan. Wir führen auch Blendengrößen für Marken, die nicht mehr hergestellt, jedoch noch verwendet werden (ISI / ABT, CamScan, Cambridge Instruments / Leica, Siemens, BalScan, ETEC / Autoscan, SEMCO / ZEISS Novascan und Nanolab).

Stiftprobenteller Ø 25 mm mit Profilen für ZEISS / LEO RasterelektronenmikroskopeProfil: 45° / 90°Stiftprobenteller Ø: 25 mmStiftlänge: 6 mm

Es gibt eine große Auswahl an hochwertigen Blenden, die speziell für den Einsatz in Raster- und Transmissionselektronenmikroskopen (SEM, FESEM und TEM), Mikrosonden Systemen, fokussierten Ionenstrahlen (FIB) und Röntgensystemen entwickelt wurden. Die Blenden werden mit hochpräzisen Bohrungen und mit optimierter Form hergestellt, um Streuungen zu vermeiden. Sie werden mit engen Toleranzen nach den Entwürfen des Originalhersteller gefertigt, vor gereinigt und einzeln verpackt. Die Blenden werden entweder als Spray-Blenden in Elektronenstrahlsäulen, als Begrenzungsaperturen oder als Endaperturen für Objektivlinsen, die mit einem Apertur Wechsler ausgestattet sind, verwendet. Sie sind in Pt / Ir (95/5%), Mo und Au (für einige Größen) erhältlich. Die Pt / Ir-Öffnungen können mit Flammen- oder Heizgeräten gereinigt werden. Molybdänblenden, die unter atmosphärischen Bedingungen gelagert werden, oxidieren schnell. Für Mo-Blenden kann nur eine Haltbarkeit von 4-6 Wochen nach Lieferung garantiert werden. Die kleinste Bohrung für Pt / Ir-Blenden beträgt 5 µm, für Mo-Blenden 10 µm. Die Blenden sind für alle gängigen Marken der EM-Systemhersteller erhältlich, einschließlich FEI / Philips, JEOL, Hitachi, ZEISS / LEO, Cameca, Topcon und Tescan. Wir führen auch Blendengrößen für Marken, die nicht mehr hergestellt, jedoch noch verwendet werden (ISI / ABT, CamScan, Cambridge Instruments / Leica, Siemens, BalScan, ETEC / Autoscan, SEMCO / ZEISS Novascan und Nanolab).

Es gibt eine große Auswahl an hochwertigen Blenden, die speziell für den Einsatz in Raster- und Transmissionselektronenmikroskopen (SEM, FESEM und TEM), Mikrosonden Systemen, fokussierten Ionenstrahlen (FIB) und Röntgensystemen entwickelt wurden. Die Blenden werden mit hochpräzisen Bohrungen und mit optimierter Form hergestellt, um Streuungen zu vermeiden. Sie werden mit engen Toleranzen nach den Entwürfen des Originalhersteller gefertigt, vor gereinigt und einzeln verpackt. Die Blenden werden entweder als Spray-Blenden in Elektronenstrahlsäulen, als Begrenzungsaperturen oder als Endaperturen für Objektivlinsen, die mit einem Apertur Wechsler ausgestattet sind, verwendet. Sie sind in Pt / Ir (95/5%), Mo und Au (für einige Größen) erhältlich. Die Pt / Ir-Öffnungen können mit Flammen- oder Heizgeräten gereinigt werden. Molybdänblenden, die unter atmosphärischen Bedingungen gelagert werden, oxidieren schnell. Für Mo-Blenden kann nur eine Haltbarkeit von 4-6 Wochen nach Lieferung garantiert werden. Die kleinste Bohrung für Pt / Ir-Blenden beträgt 5 µm, für Mo-Blenden 10 µm. Die Blenden sind für alle gängigen Marken der EM-Systemhersteller erhältlich, einschließlich FEI / Philips, JEOL, Hitachi, ZEISS / LEO, Cameca, Topcon und Tescan. Wir führen auch Blendengrößen für Marken, die nicht mehr hergestellt, jedoch noch verwendet werden (ISI / ABT, CamScan, Cambridge Instruments / Leica, Siemens, BalScan, ETEC / Autoscan, SEMCO / ZEISS Novascan und Nanolab).

Der PELCO® Fortress FIB Holder™ ist ein hochpräziser Probenhalter für die TEM- und FIB/SEM-Präparation sowie die sichere Lagerung empfindlicher Lamellenproben. Er wurde ursprünglich von South Bay Technology entwickelt und wird heute unter dem bekannten PELCO®-Markennamen weitergeführt. Dank seines intelligenten Spannmechanismus werden FIB-Lift-Out-Grids durch eine vorgespannten Feder sicher fixiert – komplett ohne Klebstoff. Das vereinfacht die Handhabung und verhindert Kontamination der Probe. In Kombination mit dem PELCO® Sample Loader gelingt das Einsetzen der Proben besonders einfach und präzise. Für die Aufbewahrung kann der Halter mit einem Pin-Stub-Desiccator oder einem anderen Pin-Stub-Lagerbehälter kombiniert werden. So bleiben Proben und Lamellen während Transport und Lagerung sicher geschützt. Der Halter ist kompatibel mit allen FIB/SEM-Systemen, die Pin-Mount-Aufnahmen unterstützen, darunter: Thermo Fisher Scientific / FEI ZEISS TESCAN Für JEOL und Hitachi-Systeme ist ein Pin-Mount-Adapter erforderlich. Der PELCO® Fortress FIB Holder™ wird aus vakuumtauglichem Aluminium gefertigt und ist mit einer Edelstahl-Rändelschraube (4-40 x ½") ausgestattet. Abmessungen: 20,7 × 14,6 × 13,2 mm (inkl. Pin, Ø 3,2 mm / 1/8"). Material: Vakuumgeeignetes Aluminium mit Edelstahl-Schraube.

Stiftprobenteller Ø 12,7 mm mit Profilen für ZEISS / LEO RasterelektronenmikroskopeProfil: 45° / 90°Stiftprobenteller Ø: 12,7 mmStiftlänge: 6 mm

Es gibt eine große Auswahl an hochwertigen Blenden, die speziell für den Einsatz in Raster- und Transmissionselektronenmikroskopen (SEM, FESEM und TEM), Mikrosonden Systemen, fokussierten Ionenstrahlen (FIB) und Röntgensystemen entwickelt wurden. Die Blenden werden mit hochpräzisen Bohrungen und mit optimierter Form hergestellt, um Streuungen zu vermeiden. Sie werden mit engen Toleranzen nach den Entwürfen des Originalhersteller gefertigt, vor gereinigt und einzeln verpackt. Die Blenden werden entweder als Spray-Blenden in Elektronenstrahlsäulen, als Begrenzungsaperturen oder als Endaperturen für Objektivlinsen, die mit einem Apertur Wechsler ausgestattet sind, verwendet. Sie sind in Pt / Ir (95/5%), Mo und Au (für einige Größen) erhältlich. Die Pt / Ir-Öffnungen können mit Flammen- oder Heizgeräten gereinigt werden. Molybdänblenden, die unter atmosphärischen Bedingungen gelagert werden, oxidieren schnell. Für Mo-Blenden kann nur eine Haltbarkeit von 4-6 Wochen nach Lieferung garantiert werden. Die kleinste Bohrung für Pt / Ir-Blenden beträgt 5 µm, für Mo-Blenden 10 µm. Die Blenden sind für alle gängigen Marken der EM-Systemhersteller erhältlich, einschließlich FEI / Philips, JEOL, Hitachi, ZEISS / LEO, Cameca, Topcon und Tescan. Wir führen auch Blendengrößen für Marken, die nicht mehr hergestellt, jedoch noch verwendet werden (ISI / ABT, CamScan, Cambridge Instruments / Leica, Siemens, BalScan, ETEC / Autoscan, SEMCO / ZEISS Novascan und Nanolab).

Es gibt eine große Auswahl an hochwertigen Blenden, die speziell für den Einsatz in Raster- und Transmissionselektronenmikroskopen (SEM, FESEM und TEM), Mikrosonden Systemen, fokussierten Ionenstrahlen (FIB) und Röntgensystemen entwickelt wurden. Die Blenden werden mit hochpräzisen Bohrungen und mit optimierter Form hergestellt, um Streuungen zu vermeiden. Sie werden mit engen Toleranzen nach den Entwürfen des Originalhersteller gefertigt, vor gereinigt und einzeln verpackt. Die Blenden werden entweder als Spray-Blenden in Elektronenstrahlsäulen, als Begrenzungsaperturen oder als Endaperturen für Objektivlinsen, die mit einem Apertur Wechsler ausgestattet sind, verwendet. Sie sind in Pt / Ir (95/5%), Mo und Au (für einige Größen) erhältlich. Die Pt / Ir-Öffnungen können mit Flammen- oder Heizgeräten gereinigt werden. Molybdänblenden, die unter atmosphärischen Bedingungen gelagert werden, oxidieren schnell. Für Mo-Blenden kann nur eine Haltbarkeit von 4-6 Wochen nach Lieferung garantiert werden. Die kleinste Bohrung für Pt / Ir-Blenden beträgt 5 µm, für Mo-Blenden 10 µm. Die Blenden sind für alle gängigen Marken der EM-Systemhersteller erhältlich, einschließlich FEI / Philips, JEOL, Hitachi, ZEISS / LEO, Cameca, Topcon und Tescan. Wir führen auch Blendengrößen für Marken, die nicht mehr hergestellt, jedoch noch verwendet werden (ISI / ABT, CamScan, Cambridge Instruments / Leica, Siemens, BalScan, ETEC / Autoscan, SEMCO / ZEISS Novascan und Nanolab).

Der PELCO® Fortress FIB Holder™ ist ein hochpräziser Probenhalter für die TEM- und FIB/SEM-Präparation sowie die sichere Lagerung empfindlicher Lamellenproben. Er wurde ursprünglich von South Bay Technology entwickelt und wird heute unter dem bekannten PELCO®-Markennamen weitergeführt. Dank seines intelligenten Spannmechanismus werden FIB-Lift-Out-Grids durch eine vorgespannten Feder sicher fixiert – komplett ohne Klebstoff. Das vereinfacht die Handhabung und verhindert Kontamination der Probe. In Kombination mit dem PELCO® Sample Loader gelingt das Einsetzen der Proben besonders einfach und präzise. Für die Aufbewahrung kann der Halter mit einem Pin-Stub-Desiccator oder einem anderen Pin-Stub-Lagerbehälter kombiniert werden. So bleiben Proben und Lamellen während Transport und Lagerung sicher geschützt. Der Halter ist kompatibel mit allen FIB/SEM-Systemen, die Pin-Mount-Aufnahmen unterstützen, darunter: Thermo Fisher Scientific / FEI ZEISS TESCAN Für JEOL und Hitachi-Systeme ist ein Pin-Mount-Adapter erforderlich. Der PELCO® Fortress FIB Holder™ wird aus vakuumtauglichem Aluminium gefertigt und ist mit einer Edelstahl-Rändelschraube (4-40 x ½") ausgestattet. Abmessungen: 20,7 × 14,6 × 13,2 mm (inkl. Pin, Ø 3,2 mm / 1/8"). Material: Vakuumgeeignetes Aluminium mit Edelstahl-Schraube.

Stiftprobenteller Ø 32 mm mit Profilen für ZEISS / LEO RasterelektronenmikroskopeProfil: 45° / 90°Stiftprobenteller Ø: 32 mmStiftlänge: 6 mm