Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch
Variante: unmontiert | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Glassubstrat 4 mm x 6 mm mit Aluminium-Linien
- periodische Strukturen nominal 145 nm / Linienhöhe ca. 100 nm
- Nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 642-1
TipChecker für AFM-Sonden "Budget Sensors"
Verpackungseinheit: 1 Stück
- Chipgröße = nutzbare Fläche: 5 mm x 5 mm
- Material: Silizium-Wafer-Chip mit scharfkantiger Nanostruktur
- Aufgeklebt auf magnetische Scheibe Ø 12 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: TC1
AFM Spitzen- und Auflösungstestobjekt (Pelco)
Träger: unmontiert | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Silizium-Wafer-Chip 5 mm x 5 mm
- Mono-Layer von kolloidalen Cobalt-Partikeln
- Nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S628
AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco)
Verpackungseinheit: 1 Stück
- PELCO® 15mm AFM Scheibenträger / PELCO® AFM Disc Pickup Tool
- 15-mm-AFM-Discs, nummeriert mit 9,9-mm-Mica-Discs (8 Stück) in einem 16214 PELCO®-Disc-Träger
- je 500 µl Goldkolloid 5 nm Bereich, 15 nm Bereich und 30 nm Bereich
- Poly-L-Lysin, 0,1%, 500 ul / Protokoll
Produktnummer: 16200
119,00 €*
AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco) mit zusätzlichen 10 nm und 20 nm Goldkolloiden
Verpackungseinheit: 1 Stück
- PELCO® 15mm AFM Scheibenträger / PELCO® AFM Disc Pickup Tool
- 15-mm-AFM-Discs, nummeriert mit 9,9-mm-Mica-Discs (8 Stück) in einem 16214 PELCO®-Disc-Träger
- je 500 µl Goldkolloid der Größenbereiche 5 nm, 10 nm, 15 nm, 20 nm und 30 nm
- Poly-L-Lysin, 0,1%, 500 ul / Protokoll
Produktnummer: 16205
336,00 €*
Test-Raster TGT-1500 für X- oder Y-Achse, 1-Dimensional, unmontiert
Träger: unmontiert | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Kantenwinkel ca. 70° / Peakhöhe ca. 1,8 µm / Peak-zu-Peak Abstand (pitch) ca. 3 µm +/- 0,01 µm
- Si-Chipgröße = 5 mm x 5 mm / Effektive (zentrale) Rasterfläche ca. 3 mm x 3 mm
- Geeignet zum Test der X- oder Y-Achse
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-40
AFM Kalibrierstandard für XYZ-Achse auf 12 mm ø AFM-Scheibe
Verpackungseinheit: 1 Stück
- AFM-Kalibrierstandard für die XYZ-Achsen
- Stufenhöhe: 20 nm
- elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: SCS-20NG
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse
Haltergröße: montiert | Stufenhöhe: 100 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 100 nm
- elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: HS-100MG
Kalibrier-Raster mit unterschiedlichen Stufenhöhen montiert auf 12 mm AFM-Scheibe
Stufenhöhe: 20nm +/- 1,5nm
- Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-20 Stufenhöhe: 20 nm ± 1,5 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-10AFM
Test-Raster TGT-1500 1-Dimensional für X- oder Y-Achse montiert auf 12mm AFM Scheibe
- Si-Wafer mit eindimensionalem Dreiecksraster (1-D) in der obersten Schicht
- Kantenwinkel ca. 70° / Kantenradius ≤ 10 nm / Peakhöhe ca. 1,8 µm (Peak-zu-Tal, nicht kalibriert)
- Peak-zu-Peak Abstand (pitch) ca. 3 µm +/- 0,01 µm / Effektive (zentrale) Rasterfläche ca. 3 mm x 3 mm
- Montiert auf einer 12 mm Durchmesser AFM-Scheibe / Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-40AFM
Test-Raster TGTZ-400 3-Dimensional für Spitzenschärfe, unmontiert
- 2-D Feld (2 mm x 2 mm) in der obersten Schicht mit sehr spitzen Peaks, Peakhöhe zwischen 0,3 µm und 0,7 µm
- Spitzenwinkel ca. 50° / Spitzenradius ≤ 10 nm / 2-D Peak-zu-Peak Abstand ca. 3 µm +/- 0,01 µm
- Diagonaler Peak-zu-Peak Abstand ca. 2,12 µm / Si-Chip Größe ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm
- Nicht auf einem Träger montiert / Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-50
Test-Raster TGTZ-400 3-Dimensional für Spitzenschärfe montiert auf 12mm AFM Scheibe
- 2-D Feld (2 mm x 2 mm) in der obersten Schicht mit sehr spitzen Peaks, Peakhöhe zwischen 0,3 µm und 0,7 µm
- Spitzenwinkel ca. 50° / Spitzenradius ≤ 10 nm / 2-D Peak-zu-Peak Abstand ca. 3 µm +/- 0,01 µm
- Diagonaler Peak-zu-Peak Abstand ca. 2,12 µm / Si-Chip Größe ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm
- Montiert auf einer 12 mm Durchmesser AFM-Scheibe / Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-50AFM
Test-Raster TG3D-3000/600 3-Dimensional für seitliche Kalibrierung, Säulen, unmontiert
- 2-D Feld mit 3-D Rechtecksäulen in der obersten Schicht / Säulenhöhe ca. 0,3 µm - 0,6 µm
- Obere 2-D-Säulenabmessung ca. 1,2 µm x 1,2 µm, nach unten hin scharf abgesetzte Kanten
- Eckenradius ≤ 10 nm / Periode (pitch) ca. 3 µm +/- 0,05 µm
- Nicht auf einem Träger montiert / Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-60
3-D Test-Raster TG3D 3000/600, Säulen (montiert auf AFM-Scheibe)
- 2-D Feld mit 3-D Rechtecksäulen in der obersten Schicht / Säulenhöhe ca. 0,3 µm - 0,6 µm
- Obere 2-D-Säulenabmessung ca. 1,2 µm x 1,2 µm, nach unten hin scharf abgesetzte Kanten
- Eckenradius ≤ 10 nm / Periode (pitch) ca. 3 µm +/- 0,05 µm
- Montiert auf AFM-Scheibe Ø 12 mm / Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S629-60AFM
3-D Test-Raster TG3D-3000/20 Quadrate (unmontiert)
- 3-D Quadrate in SiO2 Schicht auf Si-Wafer Chip / Quadrathöhe ca. 20 nm +/- 1,5 nm
- Quadratgröße ca. 1,5 µm Kantenlänge +/- 0,15 µm / Periode (pitch) 3 µm +/- 0,05 µm
- Chipgröße ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm / Nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S629-70
3-D Test-Raster TG3D-3000/20 Quadrate (montiert auf AFM-Scheibe)
- 3-D Quadrate in SiO2 Schicht auf Si-Wafer Chip / Quadrathöhe ca. 20 nm +/- 1,5 nm
- Quadratgröße ca. 1,5 µm Kantenlänge +/- 0,15 µm / Periode (pitch) 3 µm +/- 0,05 µm
- Chipgröße ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm / Montiert auf 12 mm Durchmesser AFM-Scheibe
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S629-70AFM
Kalibrier-Raster mit unterschiedlicher Stufenhöhe für Z-Achsen-Kalibrierung
Stufenhöhe: 20nm +/- 1,5nm
- Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-20 Stufenhöhe: 20 nm ± 1,5 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-10
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse
Haltergröße: montiert | Stufenhöhe: 20 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 20 nm
- elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: HS-20MG
AFM Spitzen- und Auflösungstestobjekt (Pelco)
Träger: montiert | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Silizium-Wafer-Chip 5 mm x 5 mm
- Mono-Layer von kolloidalen Cobalt-Partikeln
- Montiert auf einer Ø 12 mm Metallscheibe aus rostfreiem Stahl
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S628-AFM
Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch
Variante: montiert auf AFM-Scheibe 12 mm ø | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Glassubstrat 4 mm x 6 mm mit Aluminium-Linien
- periodische Strukturen nominal 145 nm / Linienhöhe ca. 100 nm
- Montiert aus Stahlscheibe Ø 12 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 642-1AFM
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse
Haltergröße: montiert | Stufenhöhe: 500 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 500 nm
- elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: HS-500MG
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse
Haltergröße: unmontiert | Stufenhöhe: 20 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 20 nm
- nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: HS-20MG-UM
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse
Haltergröße: unmontiert | Stufenhöhe: 100 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 100 nm
- nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: HS-100MG-UM
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse
Haltergröße: unmontiert | Stufenhöhe: 500 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 500 nm
- nicht auf Träger montiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: HS-500MG-UM
Kalibrier-Raster mit unterschiedlicher Stufenhöhe für Z-Achsen-Kalibrierung
Stufenhöhe: 110nm +/- 2nm
- Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-100 Stufenhöhe: 110 nm ± 2 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-20
Kalibrier-Raster mit unterschiedlicher Stufenhöhe für Z-Achsen-Kalibrierung
Stufenhöhe: 520nm +/- 3nm
- Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-500 Stufenhöhe: 520 nm ± 3 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-30
Kalibrier-Raster mit unterschiedlichen Stufenhöhen montiert auf 12 mm AFM-Scheibe
Stufenhöhe: 110nm +/- 2nm
- Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-20 Stufenhöhe: 110 nm ± 2 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-20AFM
Kalibrier-Raster mit unterschiedlichen Stufenhöhen montiert auf 12 mm AFM-Scheibe
Stufenhöhe: 520nm +/- 3nm
- Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-500 Stufenhöhe: 520 nm ± 3 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-30AFM