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Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø S1987A
ab 334,41 € *
Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller S1987B
ab 334,41 € *
Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller S1987C
ab 334,41 € *
Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) S1987D
ab 334,41 € *
Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø S1987E
ab 334,41 € *
Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø S1987T
ab 334,41 € *
Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø Ultra-Auflösungstestobjekt - Gold auf Kohle (Teilchengröße < 2 nm - 30 nm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø S1987U
ab 334,41 € *
Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge) Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge) S1967
ab 191,90 € *
Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø S1967A
ab 191,90 € *
Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller S1967B
ab 191,90 € *
Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller S1967C
ab 184,50 € *
Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) S1967S
ab 184,50 € *
Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø S1967E
ab 191,90 € *
Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø S1967T
ab 191,90 € *
Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø S1967U
ab 187,04 € *
Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) montiert auf vom Kunden ausgewählten Probenteller Auflösungstestobjekt - Zinn auf Kohle (10 nm - 100 nm) montiert auf vom Kunden ausgewählten Probenteller S1967D
ab 253,32 € *
Kreuzgitter-Replika mit 2160 Linien Kreuzgitter-Replika mit 2160 Linien 607-STM
91,70 € *
Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) S1937
ab 263,87 € *
Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) S1937D
ab 260,75 € *
Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø S1937T
ab 263,87 € *
Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller S1937C
ab 263,87 € *
Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller S1937B
ab 263,87 € *
Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø S1937A
ab 253,71 € *
Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø S1937E
ab 263,87 € *
Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø Universal-Testobjekt - Zinn auf Kohle (REM Sn-C, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø S1937U
ab 259,06 € *
PELCO X-CHECKER™ Wafer PELCO X-CHECKER™ Wafer 602-20
ab 2.520,00 € *
PELCO X-CHECKER™ Wafer 1 Stück 300 mm (12") PELCO X-CHECKER™ Wafer 1 Stück 300 mm (12") 602-21
ab 3.150,00 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) S1988
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø S1988A
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller S1988B
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller S1988C
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) S1988D
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø S1988E
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø S1988T
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø S1988U
238,36 € *
Seltene Erden Standards im Halter 1 Stück 25 mm 18 Seltene Erden Standards im Halter 1 Stück 25 mm 18 S1924

Preis auf Anfrage

Seltene Erden Standards im Halter 1 Stück 32 mm 18 Seltene Erden Standards im Halter 1 Stück 32 mm 18 S1925

Preis auf Anfrage

MAC - Universal-Fertighalter 25 mm MAC - Universal-Fertighalter 25 mm S1922

Preis auf Anfrage

MAC - Universal-Fertighalter 32 mm MAC - Universal-Fertighalter 32 mm S1923

Preis auf Anfrage

MAC - Fertighalter für Halbleiter, 21 Standards MAC - Fertighalter für Halbleiter, 21 Standards S1916

Preis auf Anfrage

MAC - Fertighalter für Halbleiter, 21 Standards 32 mm MAC - Fertighalter für Halbleiter, 21 Standards 32 mm S1917

Preis auf Anfrage

MAC - Biologie-Fertighalter 25 mm MAC - Biologie-Fertighalter 25 mm S1920

Preis auf Anfrage

MAC - Biologie-Fertighalter 32 mm MAC - Biologie-Fertighalter 32 mm S1921

Preis auf Anfrage

MAC - Einzelstandard in Messinghülse, 5 mm ø MAC - Einzelstandard in Messinghülse, 5 mm ø NM165

Preis auf Anfrage

REM-Titan-Testobjekt, 292 nm (nominell) für hohe Vergrößerungen, Hochauflösung REM-Titan-Testobjekt, 292 nm (nominell) für hohe Vergrößerungen, Hochauflösung 643-1
ab 2.256,54 € *
REM-Titan-Testobjekt, 292 nm (nominell) für hohe Vergrößerungen, Hochauflösung 1 Stück Kalibrierschein der PTB REM-Titan-Testobjekt, 292 nm (nominell) für hohe Vergrößerungen, Hochauflösung 1 Stück Kalibrierschein der PTB 643-11

Preis auf Anfrage

Hochauflösendes Testobjekt für TEM - Platin/Iridium auf Kohle-Lochfolie (auf 3,05 mm Netzchen) Hochauflösendes Testobjekt für TEM - Platin/Iridium auf Kohle-Lochfolie (auf 3,05 mm Netzchen) S114
33,11 € *
Kalibrierstandard Universal für REM / EDX mit 7 definierten Standards + Si-Testobjekt + Faraday Cup Kalibrierstandard Universal für REM / EDX mit 7 definierten Standards + Si-Testobjekt + Faraday Cup S1919-7S

Preis auf Anfrage

Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch 642-1
ab 1.242,06 € *
Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch 1 Stück montiert auf AFM-Scheibe 12 mm ø Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch 1 Stück montiert auf AFM-Scheibe 12 mm ø 642-1AFM
ab 1.466,67 € *
NiOx-Testobjekt NiOx-Testobjekt 650
469,00 € *
PLANOTEC Si-Testobjekt mit 5 µm - pitch Gitter und Eichzertifikat der PTB PLANOTEC Si-Testobjekt mit 5 µm - pitch Gitter und Eichzertifikat der PTB S2051

Preis auf Anfrage

Beugungsstandards 1 Stück aufgedampftes Aluminium auf 3,05 mm Netzchen Beugungsstandards 1 Stück aufgedampftes Aluminium auf 3,05 mm Netzchen S108
31,77 € *
Hochauflösendes Testobjekt für TEM - Goldteilchen auf Kohlefilm (auf 3,05 mm Netzchen, Typ G2003) Hochauflösendes Testobjekt für TEM - Goldteilchen auf Kohlefilm (auf 3,05 mm Netzchen, Typ G2003) S132
90,29 € *
PLANOTEC GSR + PARTIKELANALYSE-Kalibrierkit PLANOTEC GSR + PARTIKELANALYSE-Kalibrierkit S1957

Preis auf Anfrage

MRS-6 - Spezialhalter für Typ S2134/S2135 MRS-6 - Spezialhalter für Typ S2134/S2135 S2134-Holder

Preis auf Anfrage

MRS-4.2 XYZ - Geller-Referenz-Standard MRS-4.2 XYZ - Geller-Referenz-Standard S1810

Preis auf Anfrage

MRS-6 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück unmontiert nicht zertifiziert MRS-6 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück unmontiert nicht zertifiziert S2134

Preis auf Anfrage

MRS-6 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück unmontiert NIST und NPL für X, Y zertifiziert MRS-6 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück unmontiert NIST und NPL für X, Y zertifiziert S2135

Preis auf Anfrage

TEM-Kalibrierstandard MAG*I*CAL TEM-Kalibrierstandard MAG*I*CAL S1936

Preis auf Anfrage

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