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Polystyren Latex Kugeln 5 ml 0,200 µm Polystyren Latex Kugeln 5 ml 0,200 µm S130-4
ab 36,10 € *
Polystyren Latex Kugeln 5 ml 0,855 µm Polystyren Latex Kugeln 5 ml 0,855 µm S130-7
ab 39,40 € *
Beugungsstandards 1 Stück aufgedampftes Aluminium auf 3,05 mm Netzchen Beugungsstandards 1 Stück aufgedampftes Aluminium auf 3,05 mm Netzchen S108
34,65 € *
Hochauflösendes Testobjekt für TEM - Goldteilchen auf Kohlefilm (auf 3,05 mm Netzchen, Typ G2003) Hochauflösendes Testobjekt für TEM - Goldteilchen auf Kohlefilm (auf 3,05 mm Netzchen, Typ G2003) S132
98,55 € *
Kreuzgitter-Replika 2160 L/ mm, auf 3,05 mm Netzchen Kreuzgitter-Replika 2160 L/ mm, auf 3,05 mm Netzchen 607
74,20 € *
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Gold auf 500 µm Silizium Substrat 2 - 30 nm Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Gold auf 500 µm Silizium Substrat 2 - 30 nm S1987SI
ab 461,75 € *
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Gold auf 500 µm Silizium Substrat 30 - 300 nm Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Gold auf 500 µm Silizium Substrat 30 - 300 nm S168ZSI
ab 185,55 € *
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Zinn auf 500 µm Silizium Substrat 5 - 150 nm Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Zinn auf 500 µm Silizium Substrat 5 - 150 nm S168SI
ab 163,91 € *
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Gold auf 500 µm Silizium Substrat 3 - 50 nm Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Gold auf 500 µm Silizium Substrat 3 - 50 nm S1969SI
ab 228,31 € *
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Zinn auf 500 µm Silizium Substrat 5 - 30 nm Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Zinn auf 500 µm Silizium Substrat 5 - 30 nm S1937SI
ab 341,00 € *
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Zinn auf 500 µm Silizium Substrat 20 - 400 nm Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Zinn auf 500 µm Silizium Substrat 20 - 400 nm S1988SI
ab 246,45 € *
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Zinn auf 500 µm Silizium Substrat 10 - 100 nm Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 1 Stück Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick Zinn auf 500 µm Silizium Substrat 10 - 100 nm S1967SI
ab 253,00 € *
Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch 642-1
ab 1.242,06 € *
BSE Referenzobjekt Nickel (Z=28) - Kupfer (Z=29) BSE Referenzobjekt Nickel (Z=28) - Kupfer (Z=29) S1950

Preis auf Anfrage

Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) S1988
238,36 € *
MAC - Wahlstandard-Halter aus Messing (5 Standards) MAC - Wahlstandard-Halter aus Messing (5 Standards) NM105

Preis auf Anfrage

MAC - Einbau eines Faraday-Käfigs MAC - Einbau eines Faraday-Käfigs NM161

Preis auf Anfrage

Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 630
ab 140,91 € *
MRS-4.2 XYZ - Geller-Referenz-Standard MRS-4.2 XYZ - Geller-Referenz-Standard S1810

Preis auf Anfrage

MRS-6 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück unmontiert nicht zertifiziert MRS-6 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück unmontiert nicht zertifiziert S2134

Preis auf Anfrage

MRS-6 - Spezialhalter für Typ S2134/S2135 MRS-6 - Spezialhalter für Typ S2134/S2135 S2134-Holder

Preis auf Anfrage

AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco) AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco) 16200
119,00 € *
AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco) mit zusätzlichen 10 nm und 20 nm Goldkolloiden AFM-Gold-Kalibrierkit (Pelco) mit zusätzlichen 10 nm und 20 nm Goldkolloiden 16205
336,00 € *
PLANOTEC Chemographie-Testprobe mit synthet. GSR-Verteilung PLANOTEC Chemographie-Testprobe mit synthet. GSR-Verteilung S1959
399,00 € *
PLANOTEC Chemographie-Testprobe zur Bestimmung von Homogenität + Auflösungsgrenze PLANOTEC Chemographie-Testprobe zur Bestimmung von Homogenität + Auflösungsgrenze S1959R
399,00 € *
PLANOTEC Si-Testobjekt mit 5 µm - pitch Gitter und Eichzertifikat der PTB PLANOTEC Si-Testobjekt mit 5 µm - pitch Gitter und Eichzertifikat der PTB S2051

Preis auf Anfrage

REM-Auflösungstestobjekt mit Dendriten aus Wolfram-Aluminium REM-Auflösungstestobjekt mit Dendriten aus Wolfram-Aluminium S145
362,50 € *
REM-Titan-Testobjekt, 292 nm (nominell) für hohe Vergrößerungen, Hochauflösung REM-Titan-Testobjekt, 292 nm (nominell) für hohe Vergrößerungen, Hochauflösung 643-1
ab 2.256,54 € *
Seltene Erden Standards im Halter 1 Stück 25 mm 18 Seltene Erden Standards im Halter 1 Stück 25 mm 18 S1924

Preis auf Anfrage

1-D Dreiecks-Test-Raster TGT-1500 (unmontiert) 1-D Dreiecks-Test-Raster TGT-1500 (unmontiert) S629-40
343,00 € *
Pelcotec SFG12 Silizium Finder Substrat Pelcotec SFG12 Silizium Finder Substrat 21480
30,63 € *
Kreuzgitter-Replika mit 2160 Linien Kreuzgitter-Replika mit 2160 Linien 607-STM
91,70 € *
Kalibrierstandard "XCS BSD" Kalibrierstandard "XCS BSD" 659-7
ab 875,00 € *
Rückstreuelektronen-Kombistandard Rückstreuelektronen-Kombistandard NM231

Preis auf Anfrage

Liniengitter-Replika (2160 L / mm) auf 3,05 mm Netzchen Liniengitter-Replika (2160 L / mm) auf 3,05 mm Netzchen S104
63,38 € *
Gitterebenen-Testobjekte Gitterebenen-Testobjekte S118
ab 51,75 € *
MAC DUPLEX Referenzobjekt MAC DUPLEX Referenzobjekt S1953

Preis auf Anfrage

AFM Kalibrierstandard für XYZ-Achse auf 12 mm ø AFM-Scheibe AFM Kalibrierstandard für XYZ-Achse auf 12 mm ø AFM-Scheibe SCS-20NG

Preis auf Anfrage

BSE Referenzobjekt Aluminium (Z=13) - Silizium (Z=14) BSE Referenzobjekt Aluminium (Z=13) - Silizium (Z=14) S1954

Preis auf Anfrage

BSE Referenzobjekt Palladium (Z=46) - Silber (Z=47) BSE Referenzobjekt Palladium (Z=46) - Silber (Z=47) S1951

Preis auf Anfrage

BSE Referenzobjekt Platin (Z=78) - Gold (Z=79) BSE Referenzobjekt Platin (Z=78) - Gold (Z=79) S1952

Preis auf Anfrage

Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,216 µm Gold Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,216 µm Gold S128B
ab 57,55 € *
Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,112 µm Palladium/Platin Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,112 µm Palladium/Platin S128A1
ab 56,00 € *
Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,855 µm Palladium/Platin Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,855 µm Palladium/Platin S128A7
ab 52,00 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø S1988A
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller S1988B
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller S1988C
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) S1988D
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø S1988E
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø S1988T
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø S1988U
238,36 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück 12,5 mm ø Stiftprobenteller, 6 mm Stift Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück 12,5 mm ø Stiftprobenteller, 6 mm Stift 630-F
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück 12,5 mm ø Stiftprobenteller, 8 mm Stift Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück 12,5 mm ø Stiftprobenteller, 8 mm Stift 630-A
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück Hitachi-Träger (M4), 15 mm ø x 6 mm hoch Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück Hitachi-Träger (M4), 15 mm ø x 6 mm hoch 630-K
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück ISI/ABT-Träger, 15 mm ø x 10 mm hoch Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück ISI/ABT-Träger, 15 mm ø x 10 mm hoch 630-D
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück JEOL-Träger, 12,2 mm ø x 10 mm hoch Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück JEOL-Träger, 12,2 mm ø x 10 mm hoch 630-M
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück JEOL-Träger, 9,5 mm ø x 9,5 mm hoch Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück JEOL-Träger, 9,5 mm ø x 9,5 mm hoch 630-C
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück Probenträger vom Kunden gestellt Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück Probenträger vom Kunden gestellt 630-G
ab 294,00 € *
MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Standard-Halter nicht zertifiziert MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Standard-Halter nicht zertifiziert S1990S

Preis auf Anfrage

MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Standard-Halter zertifiziert in X-, Y- und Z nach NIST MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Standard-Halter zertifiziert in X-, Y- und Z nach NIST S1992S

Preis auf Anfrage

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