Präzisions-Kalibrierstandard 292 nm Pitch, hochauflösend & zertifiziert (nicht rückführbar), unmontiert

📦 Beschreibung:

Der Kalibrierstandard 292 nm Pitch ist ein präzises holografischer Präzisionsstandard zur hochauflösenden Kalibrierung von Rastersonden- und Elektronenmikroskopen (AFM, SEM, FIB).
Er bietet hervorragenden Kontrast, scharfe Kanten und eine stabile Nanostruktur für wiederholgenaue Messergebnisse.

Mit einer Pitch-Periode von nominal 292 nm (±1 % Genauigkeit) eignet sich dieser Standard ideal für hochpräzise Messungen im Nanometerbereich. Das individuelle Kalibrierzertifikat weist den tatsächlichen Pitch-Wert aus.

🧭 Oberflächenstruktur:

• Material: Titanlinien auf Siliziumsubstrat

• Chipgröße: 4 × 3 mm

• Linienhöhe: ca. 30 nm

• Linienbreite: ca. 130 nm(nicht kalibriert)

Der kalibrierte Bereich deckt die gesamte Chipfläche ab und ermöglicht zehntausende Messungen, ohne dass zuvor genutzte oder kontaminierte Bereiche erneut verwendet werden müssen.

⚙️ Anwendungsmöglichkeiten:

• AFM:  Für Contact-, Tapping- und weitere Modi; Bildgrößen von 500 nm bis 20 µm; montiert auf 12 mm    Edelstahl-AFM-Trägerdisk
  
• SEM/FIB:  Für Beschleunigungsspannungen von <1 kV bis 30 kV; Kalibrierung von 5kX bis 200kX; wahlweise unmontiert oder auf SEM-Stubs montiert lieferbar

🧾 Zertifizierung:

• Version mit nicht-rückführbarem Herstellerzertifikat (mittlerer Pitchwert aus Batch-Messung)

• oder PTB/NIST-rückführbares Zertifikat, gemessen in Vergleich mit PTB-Standard (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig, Deutschland – NIST-Äquivalent USA)

Damit ist der Standard international rückführbar (NIST / PTB) gemäß gegenseitiger Anerkennung beider Institute.