MAC - Fertighalter für Halbleiter, 21 Standards
Außendurchmesser: 25 mm
- In diesem Block sind die Standards vereinigt, auf die Anwender in der Halbleiter-Industrie Wert legen:
- B, C, Mg2Sn, Al2SiO5, Si, CaF2, FeSi2, FeS2, Cu2S, ZnS, GaP, GaAs, Bi2Te3, Ge, Ag2S, CdS, InP, InSb, HgTe, PbTe, Bi2Se3
- Außendurchmesser: 25 mm
Produktnummer: S1916
Kalibrier-Raster mit Stufenhöhe 20 nm für Z-Achsen-Kalibrierung
Stufenhöhe: 20nm +/- 1,5nm
- Struktur: Si-Wafer mit SiO2-Schicht zum Gitter / Muster: 1-dimensional (in Richtung der Z-Achse)
- TGZ-20 Stufenhöhe: 20 nm ± 1,5 nm / Pitch (Periodizität): 3 ± 0,01 µm
- Chip Größe: 5 x 5 x 0,5 mm / effektiver Rasterbereich: Zentrales Quadrat von 3 x 3 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 629-10
AFM Kalibrierstandard für die Z-Achse
Haltergröße: montiert | Stufenhöhe: 20 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- AFM-Kalibrierstandard für die Z-Achse
- Stufenhöhe: 20 nm
- elektrisch leitfähig montiert auf Ø 12 mm AFM-Scheibe
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: HS-20MG
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 461,75 €*
Material: Gold auf 500 µm Silizium Substrat | Substrat: Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick | Teilchengröße: 2 - 30 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Material: Gold auf Silizium
- Größenbereich: 2 nm - 30 nm
- Siliziumsubstrat 5 mm x 5 mm x 500 µm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1987SI
Varianten ab 163,91 €*
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 185,55 €*
Material: Gold auf 500 µm Silizium Substrat | Substrat: Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick | Teilchengröße: 30 - 300 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Material: Gold auf Silizium
- Größenbereich: 30 nm - 300 nm
- Siliziumsubstrat 5 mm x 5 mm x 500 µm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S168ZSI
Varianten ab 163,91 €*
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat
Material: Zinn auf 500 µm Silizium Substrat | Substrat: Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick | Teilchengröße: 5 - 150 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Material: Zinn auf Silizium
- Größenbereich der Zinnkugeln: 5 nm - 150 nm
- Siliziumsubstrat 5 mm x 5 mm x 500 µm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S168SI
163,91 €*
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 228,31 €*
Material: Gold auf 500 µm Silizium Substrat | Substrat: Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick | Teilchengröße: 3 - 50 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Material: Gold auf Silizium
- Größenbereich: 3 nm - 50 nm
- Siliziumsubstrat 5 mm x 5 mm x 500 µm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1969SI
Varianten ab 163,91 €*
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 341,22 €*
Material: Zinn auf 500 µm Silizium Substrat | Substrat: Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick | Teilchengröße: 5 - 30 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Material: Zinn auf Silizium
- Größenbereich der Zinnkugeln: 5 nm - 30 nm
- Siliziumsubstrat 5 mm x 5 mm x 500 µm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1937SI
Varianten ab 163,91 €*
Auflösungstestobjekte auf Silizium Substrat 269,11 €*
Material: Zinn auf 500 µm Silizium Substrat | Substrat: Silizium 5 mm x 5 mm x 500 µm dick | Teilchengröße: 20 - 400 nm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Material: Zinn auf Silizium
- Größenbereich der Zinnkugeln: 20 nm - 400 nm
- Siliziumsubstrat 5 mm x 5 mm x 500 µm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1988SI
Varianten ab 163,91 €*
BSE Referenzobjekt
Elementkombination: Aluminium (Z=13) - Silizium (Z=14)
Ein Elektronenmikroskop, das mit einem Rückstreuelektronen-Detektor ausgestattet ist, hat die Möglichkeit der Erzeugung von Bildern, auf welchen der Kontrast durch den Unterschied der Atomordnungszahl der Probe bestimmt ist. Zur Überprüfung des Atomordnungszahlkontrastes stehen jetzt drei Testobjekte zur Verfügung. Jedes davon besteht aus zwei hochreinen Elementen mit einem Unterschied der Atomordnungszahl von Z = 1. Das Element mit der niedrigeren Atomordnungszahl ist in Form eines Drahtes in das Element mit der höheren Atomordnungszahl eingefügt. Diese Testobjekte sind einzeln gefasst in Hülsen von 3 mm oder 5 mm Durchmesser erhältlich oder als Teil eines Vielfachhalters.
Produktnummer: S1954
BSE Referenzobjekt
Elementkombination: Palladium (Z=46) - Silber (Z=47)
Ein Elektronenmikroskop, das mit einem Rückstreuelektronen-Detektor ausgestattet ist, hat die Möglichkeit der Erzeugung von Bildern, auf welchen der Kontrast durch den Unterschied der Atomordnungszahl der Probe bestimmt ist. Zur Überprüfung des Atomordnungszahlkontrastes stehen jetzt drei Testobjekte zur Verfügung. Jedes davon besteht aus zwei hochreinen Elementen mit einem Unterschied der Atomordnungszahl von Z = 1. Das Element mit der niedrigeren Atomordnungszahl ist in Form eines Drahtes in das Element mit der höheren Atomordnungszahl eingefügt. Diese Testobjekte sind einzeln gefasst in Hülsen von 3 mm oder 5 mm Durchmesser erhältlich oder als Teil eines Vielfachhalters.
Produktnummer: S1951
BSE Referenzobjekt
Elementkombination: Platin (Z=78) - Gold (Z=79)
Ein Elektronenmikroskop, das mit einem Rückstreuelektronen-Detektor ausgestattet ist, hat die Möglichkeit der Erzeugung von Bildern, auf welchen der Kontrast durch den Unterschied der Atomordnungszahl der Probe bestimmt ist. Zur Überprüfung des Atomordnungszahlkontrastes stehen jetzt drei Testobjekte zur Verfügung. Jedes davon besteht aus zwei hochreinen Elementen mit einem Unterschied der Atomordnungszahl von Z = 1. Das Element mit der niedrigeren Atomordnungszahl ist in Form eines Drahtes in das Element mit der höheren Atomordnungszahl eingefügt. Diese Testobjekte sind einzeln gefasst in Hülsen von 3 mm oder 5 mm Durchmesser erhältlich oder als Teil eines Vielfachhalters.
Produktnummer: S1952
CD Kalibrierstrukturen (CRITICAL DIMENSION) 10-5-2-1-0,5 µm
Kalibrierschein: PTB | Verpackungseinheit: 1 Stück
- "Critical Dimension" CD-Kalibrierstruktur
- Strukturgrößen: 10 µm - 5 µm 2 µm - 1 µm - 0,5 µm
- Bescheinigung: Kalibrierschein der PTB Braunschweig
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1997A
Goldbeschattete Latexkugeln Ø 0,196 auf 3,05 mm-Netzchen 57,55 €*
Beschattung: Gold | Teilchengröße: 0,196 µm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Präparat: Mit Gold schräg beschattete Polystyren-Latex-Teilchen Ø 0,216 µm
- Unterlage: Kohlefilm auf Ø 3,05 mm TEM-Netzchen
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S128B
Varianten ab 52,00 €*
Palladium/Platin beschattete Latexkugeln Ø 0,862 auf 3,05 mm-Netzchen
Beschattung: Palladium/Platin | Teilchengröße: 0,862 µm | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Präparat: Mit Pd/Pt schräg beschattete Polystyren-Latex-Teilchen Ø 0,855 µm
- Unterlage: Kohlefilm auf Ø 3,05 mm TEM-Netzchen
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S128A-7
52,00 €*
Kolloidales Gold 50nm, 20ml 152,25 €*
Teilchengröße: 50 nm | Verpackungseinheit: 20 ml
- Kolloidales Gold in wässriger Lösung
- Teilchengröße: 50 nm
- Inhalt: 20 ml
Produktnummer: 15708-20
Varianten ab 142,68 €*
Kolloidales Gold 40nm, 20ml 152,25 €*
Teilchengröße: 40 nm | Verpackungseinheit: 20 ml
- Kolloidales Gold in wässriger Lösung
- Teilchengröße: 40 nm
- Inhalt: 20 ml
Produktnummer: 15707-20
Varianten ab 142,68 €*
Kolloidales Gold 30nm, 20ml 152,25 €*
Teilchengröße: 30 nm | Verpackungseinheit: 20 ml
- Kolloidales Gold in wässriger Lösung
- Teilchengröße: 30 nm
- Inhalt: 20 ml
Produktnummer: 15706-20
Varianten ab 142,68 €*
Kolloidales Gold 20nm, 20ml 152,25 €*
Teilchengröße: 20 nm | Verpackungseinheit: 20 ml
- Kolloidales Gold in wässriger Lösung
- Teilchengröße: 20 nm
- Inhalt: 20 ml
Produktnummer: 15705-20
Varianten ab 142,68 €*
Kolloidales Gold 10nm, 20ml 152,25 €*
Teilchengröße: 10 nm | Verpackungseinheit: 20 ml
- Kolloidales Gold in wässriger Lösung
- Teilchengröße: 10 nm
- Inhalt: 20 ml
Produktnummer: 15703-20
Varianten ab 142,68 €*
Pelcotec LMS-20C Kalibrierstandard - nach NIST zertifiziert
Träger: auf vom Kunden gestellten Probenträger | Verpackungseinheit: 1 Stück | Zertifikat: individuell auf NIST rückführbar
- Silizium-Chip 22 mm x 11 mm mit Kalibrierfläche 20 mm x 10 mm
- Bescheinigung: nach NIST zertifiziert
- Probenträger: vom Kunden gestellt
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 688-11G
Pelcotec LMS-20C Kalibrierstandard - nach NIST zertifiziert
Träger: Hitachi Probenträger (M4), 25 mm ø x 6 mm | Verpackungseinheit: 1 Stück | Zertifikat: individuell auf NIST rückführbar
- Silizium-Chip 22 mm x 11 mm mit Kalibrierfläche 20 mm x 10 mm
- Bescheinigung: nach NIST zertifiziert
- Probenträger: Ø 25 mm x 6 mm mit M4 Gewinde
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 688-11L
Pelcotec LMS-20C Kalibrierstandard - nach NIST zertifiziert
Träger: Cambridge S4-Probenträger | Verpackungseinheit: 1 Stück | Zertifikat: individuell auf NIST rückführbar
- Silizium-Chip 22 mm x 11 mm mit Kalibrierfläche 20 mm x 10 mm
- Bescheinigung: nach NIST zertifiziert
- Probenträger: Ø 31,7 mm x 6,47 mm Cambridge S4 Probenteller
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 688-11O
Pelcotec LMS-20C Kalibrierstandard - nach NIST zertifiziert
Träger: Großer Stiftprobenteller 25,4 mm ø | Verpackungseinheit: 1 Stück | Zertifikat: individuell auf NIST rückführbar
- Silizium-Chip 22 mm x 11 mm mit Kalibrierfläche 20 mm x 10 mm
- Bescheinigung: nach NIST zertifiziert
- Probenträger: Ø 25,4 mm Stiftprobenträger (Stiftlänge 9,5 mm)
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 688-11R
Low kV Au-C Testobjekt mit Goldteilchen (Teilchengröße < 30 nm bis 300 nm) 171,71 €*
Träger: auf JEOL-Probenteller 10 mm ø | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Gold auf Kohle
- Größe der Goldteilchen: < 30 nm - 300 nm
- Probenträger: JEOL Ø 10 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S168AZ
Varianten ab 168,90 €*
Low kV Au-C Testobjekt mit Goldteilchen (Teilchengröße < 30 nm bis 300 nm) 171,71 €*
Träger: auf ISI/ABT Probenteller | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Gold auf Kohle
- Größe der Goldteilchen: < 30 nm - 300 nm
- Probenträger: ISI/ABT
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S168BZ
Varianten ab 168,90 €*
Low kV Au-C Testobjekt mit Goldteilchen (Teilchengröße < 30 nm bis 300 nm) 187,51 €*
Träger: auf HITACHI Probenteller | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Gold auf Kohle
- Größe der Goldteilchen: < 30 nm - 300 nm
- Probenträger: HITACHI
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S168CZ
Varianten ab 168,90 €*
Low kV Au-C Testobjekt mit Goldteilchen (Teilchengröße < 30 nm bis 300 nm)
Träger: auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Gold auf Kohle
- Größe der Goldteilchen: < 30 nm - 300 nm
- Probenträger: Ø 12,5 mm Stiftprobenteller (Stift 6 mm)
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S168DZ
Low kV Au-C Testobjekt mit Goldteilchen (Teilchengröße < 30 nm bis 300 nm) 171,71 €*
Träger: auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Gold auf Kohle
- Größe der Goldteilchen: < 30 nm - 300 nm
- Probenträger: JEOL Ø 12,5 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S168EZ
Varianten ab 168,90 €*
Low kV Au-C Testobjekt mit Goldteilchen (Teilchengröße < 30 nm bis 300 nm) 171,71 €*
Träger: auf dünner Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Gold auf Kohle
- Größe der Goldteilchen: < 30 nm - 300 nm
- auf dünner Kohlescheibe 0,5 mm / Ø 6 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S168TZ
Varianten ab 168,90 €*
Low kV Au-C Testobjekt mit Goldteilchen (Teilchengröße < 30 nm bis 300 nm) 187,50 €*
Träger: auf Kohlescheibe 2 mm dick / 6 mm ø | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Gold auf Kohle
- Größe der Goldteilchen: < 30 nm - 300 nm
- auf Kohlescheibe 2 mm dick / Ø 6 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S168UZ
Varianten ab 168,90 €*
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm)
Träger: montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Zinn auf Kohle
- Größe der Zinnkugeln: < 20 nm - 400 nm
- Probenträger: JEOL Ø 10 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1988A
238,36 €*
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm)
Träger: montiert auf ISI/ABT Probenteller | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Zinn auf Kohle
- Größe der Zinnkugeln: < 20 nm - 400 nm
- Probenträger: ISI/ABT
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1988B
238,36 €*
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm)
Träger: montiert auf HITACHI Probenteller | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Zinn auf Kohle
- Größe der Zinnkugeln: < 20 nm - 400 nm
- Probenträger: HITACHI
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1988C
238,36 €*
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm)
Träger: montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Zinn auf Kohle
- Größe der Zinnkugeln: < 20 nm - 400 nm
- Probenträger: Ø 12,5 mm Stiftprobenteller (Stift 6 mm)
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1988D
238,36 €*
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm)
Träger: montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Zinn auf Kohle
- Größe der Zinnkugeln: < 20 nm - 400 nm
- Probenträger: JEOL Ø 12,5 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1988E
238,36 €*
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm)
Träger: unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Zinn auf Kohle
- Größe der Zinnkugeln: < 20 nm - 400 nm
- auf dünner Kohlescheibe 0,5 mm / Ø 6 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1988T
238,36 €*
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm)
Träger: unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Testmaterial: Zinn auf Kohle
- Größe der Zinnkugeln: < 20 nm - 400 nm
- auf dicker Kohlescheibe 2 mm / Ø 6 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: S1988U
238,36 €*
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 154,00 €*
Träger: 12,5 mm ø Stiftprobenteller, 6 mm Stift | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Scheibchen aus vernickeltem Kupfer Ø 3 mm
- Skala 1 mm lang mit Unterteilungen 10 µm ± 0,5 µm
- Probenträger: Ø 12,5 mm Stiftprobenteller (Stiftlänge 6 mm)
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 630-F
Varianten ab 140,91 €*
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 154,00 €*
Träger: 12,5 mm ø Stiftprobenteller, 8 mm Stift | Verpackungseinheit: 1 Stück
- Scheibchen aus vernickeltem Kupfer Ø 3 mm
- Skala 1 mm lang mit Unterteilungen 10 µm ± 0,5 µm
- Probenträger: Ø 12,5 mm Stiftprobenteller (Stiftlänge 8 mm)
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 630-A
Varianten ab 140,91 €*