-
Produkte
- AFM
- Aufbewahrung
- Beschichtung im Vakuum
- Blenden
-
Eichstandards & Testobjekte
- AFM - Kalibrierstandard
- Auflösungstestobjekte
- Geller - Referenz - Standards
- CDMS / CDMS-XY / LMS - Vergrößerungsstandard
- Planotec - GSR
-
Testobjekte und Gitter
- PLANOTEC - Si - Testobjekt mit 10 µm - pitch Gitter
- PLANOTEC - Si - Testobjekt mit 5 µm - pitch Gitter
- Pelcotec G1 - Si - Kalibrierungs - Testobjekt mit 1 µm - pitch Gitter
- CHESSY - Testobjekt
- CD - Kalibrierstrukturen
- REM - Titan - Hochauflösungstestobjekt - 292 nm
- Pelco Silizium - Finder Substrat - SFG12
- Vergrößerungs- / Auflösungs - Eichung
- Vergrößerungsstandards für LM & REM
- XCS / EDS / BSD - Kalibrierstandards
- X-Ray Referenz Kalibrierstandards
- Einbettharze & Komponenten
- FIB & Mikromanipulator-Tastkopfnadeln
- Hilfsmittel
- Kathoden
- Kryo-EM Zubehör
- Kleber
- Lichtmikroskopie
- Pinzetten & Greifer
- Polier- und Reinigungsmaterialien
- Probenpräparation
- REM-Zubehör
- TEM Grids & Zubehör
- TEM - Membranen & Rahmen
- Trägerfilme
- Wachse, Öle, Vakuumfette, Lack
- Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 5 µm ± 0,05 µm
- Grabenbreite ca. 1 µm breit, Seitenlänge der Quadrate ca. 4 µm
- unmontiert
- Verpackungseinheit: 1 Stück
- Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 5 µm ± 0,05 µm
- Grabenbreite ca. 1 µm breit, Seitenlänge der Quadrate ca. 4 µm
- Mit Eichzertifikat der PTB Braunschweig
- Verpackungseinheit: 1 Stück
- Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 5 µm ± 0,05 µm
- Grabenbreite ca. 1 µm breit, Seitenlänge der Quadrate ca. 4 µm
- Montiert auf Ø 12,5 mm Stiftprobenteller (Stiftlänge 6 mm)
- Verpackungseinheit: 1 Stück
- Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 5 µm ± 0,05 µm
- Grabenbreite ca. 1 µm breit, Seitenlänge der Quadrate ca. 4 µm
- Montiert auf Ø 12,5 mm Stiftprobenteller (Stiftlänge 8 mm)
- Verpackungseinheit: 1 Stück
- Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 5 µm ± 0,05 µm
- Grabenbreite ca. 1 µm breit, Seitenlänge der Quadrate ca. 4 µm
- Montiert auf JEOL Probenträger Ø 10 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
- Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 5 µm ± 0,05 µm
- Grabenbreite ca. 1 µm breit, Seitenlänge der Quadrate ca. 4 µm
- Montiert auf HITACHI Probenträger Ø 15 mm x 6 mm mit M4 Gewinde
- Verpackungseinheit: 1 Stück