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Pelcotec™ LMS-20T Kalibrierstandard montiert auf Objektträger 25 x 75mm - individuell auf NIST rückführbar

Produktinformationen "Pelcotec™ LMS-20T Kalibrierstandard montiert auf Objektträger 25 x 75mm - individuell auf NIST rückführbar"

Der Pelcotec™ LMS-20 Low Magnification Calibration Standard ist ein hochpräziser Kalibrierstandard zur exakten Kalibrierung von Mikroskopen und Probenbühnen bei niedrigen bis mittleren Vergrößerungen. Er wurde speziell für Anwendungen entwickelt, bei denen großflächige Messungen und höchste Genauigkeit erforderlich sind, wie z. B. Partikelanalyse, GSR-Analyse, Rasterelektronenmikroskopie (SEM) sowie Lichtmikroskopie (LM) im Auflicht.

Der Kalibrierbereich umfasst 20 × 10 mm und ist mit gekreuzten Linien sowie 0,01-mm-Teilungen versehen. Kreuzmarken alle 0,1 mm sowie größere Referenzkreuze bei 0,5 mm und 1 mm ermöglichen eine schnelle und reproduzierbare Kalibrierung über die gesamte Fläche. Die 75 nm starken Chromlinien sind auf einem ultraflachen Siliziumsubstrat aufgebracht und gewährleisten eine exzellente Kontrastdarstellung und Langzeitstabilität.

Jeder Pelcotec™ LMS-20 verfügt über eine eingelaserte Seriennummer zur eindeutigen Identifikation. Für regulierte Anwendungen sind zwei zertifizierte Varianten erhältlich:

  • LMS-20T (NIST-rückführbar, Zertifikat auf Chargenebene)

  • LMS-20C (vollständig individuell zertifiziert)

Der Silizium-Die besitzt eine Größe von 22 × 11 mm bei einer Dicke von 675 µm ± 10 µm, <100>-Orientierung, bor-dotiertem Silizium und einer spezifischen Resistivität von 5–10 Ohm/cm. Der Kalibrierstandard ist unmontiert oder auf SEM-Probenhaltern montiert erhältlich.

Zur Vermeidung von Kontaminationen wird die Lagerung unter Vakuum empfohlen. Für SEM-Pin-Montagen eignet sich besonders der PELCO® SEM Sample Stub Vacuum Desiccator (#16179). Zusätzlich ist der Pelcotec™ LMS-20G für Durchlichtmikroskopie verfügbar.