Tastkopfnadel - Prüfnadeln ST-Serie mit Wolframspitze, Spitzenradius < 0,5 µm, Länge 38 mm, Schaft-Ø 0,51 mm
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Produktinformationen "Tastkopfnadel - Prüfnadeln ST-Serie mit Wolframspitze, Spitzenradius < 0,5 µm, Länge 38 mm, Schaft-Ø 0,51 mm"
Die ST Series Prüfnadeln wurden speziell für anspruchsvolle Anwendungen in der Halbleiterentwicklung, Wafer-Probing-Technik und Mikroelektronik entwickelt. Die Präzisionsspitzen bestehen aus massivem Wolfram und werden elektrochemisch geschärft, um eine außergewöhnlich feine und reproduzierbare Kontaktierung zu gewährleisten.
Mit einem Schaftdurchmesser von 0,51 mm (0.020") und einer Länge von 38,1 mm (1.5") eignen sich die ST-Prüfspitzen für die meisten Standard-Mikropositionierer und Probe Stations.
Die extrem robusten Wolframspitzen ermöglichen eine zuverlässige Kontaktierung von:
- Integrierten Schaltungen (ICs)
- Bondpads
- Leiterbahnen
- Wafern
- Mikroelektronischen Strukturen
- Dünnschichtsystemen
Dank der hohen Härte von Wolfram können die Prüfnadeln sogar durch mehrere Passivierungsschichten dringen und ermöglichen dadurch sichere elektrische Messungen auch bei anspruchsvollen Proben.
Verfügbare Spitzenradien
Für unterschiedliche Messanforderungen stehen verschiedene Spitzengeometrien zur Verfügung:
- < 0,5 µm
- < 1,0 µm
- < 2,0 µm
- < 5,0 µm
- < 10,0 µm
Dadurch eignen sich die Prüfnadeln sowohl für hochauflösende Mikrostrukturen als auch für Standard-Probing-Anwendungen.
Optional sind die Prüfnadeln auch in einer vernickelten Ausführung (NP-Version) erhältlich. Diese ermöglicht das direkte Anlöten von Kabeln oder Messleitungen an den Nadelschaft.
Typische Anwendungen
- Wafer Probing
- Halbleitertests
- IC-Charakterisierung
- Failure Analysis
- Elektrische Kontaktierung
- Forschungs- und Entwicklungslabore
- Mikroelektronik
- MEMS-Testsysteme
- Elektronenmikroskopie-Probenkontaktierung
- Probe Stations
✅ Ihre Vorteile auf einen Blick
- Massiver Wolframschaft
- Elektrochemisch geschärfte Präzisionsspitze
- Spitzenradien von 0,5 bis 10 µm
- Hohe Verschleißfestigkeit
- Ideal für Mikropositionierer
- Geeignet für Wafer und IC-Probing
- Optional vernickelte Ausführung erhältlich
- Lange Lebensdauer
- Sofort verfügbar
- Sondergrößen auf Anfrage
📊 Technische Details
- Produktserie: GGB ST Series
- Material: Massives Wolfram
- Schaftdurchmesser: 0,51 mm (0.020")
- Länge: 38,1 mm (1.5")
- Spitzenherstellung: Elektrochemisch geschärft
-
Spitzenradien verfügbar:
- < 0,5 µm
- < 1,0 µm
- < 2,0 µm
- < 5,0 µm
- < 10,0 µm
- Option: Vernickelte Ausführung (NP)
- Kompatibilität: Standard-Mikropositionierer
- Anwendungen: IC-Probing, Wafer-Probing, Mikroelektronik