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Siliziumnitrid Membran - TEM Windows, Low-Stress SiN nicht porös

Produktinformationen "Siliziumnitrid Membran - TEM Windows, Low-Stress SiN nicht porös"

Siliziumnitrid Membran - TEM Windows, Low-Stress Siliziumnitrid, nicht porös , Temperaturstabil bis 1000 °C

  • Chip-Rahmen: 2.9 mm Ø + 0.1 mm Dicke
  • Fenster Größe: (1) 100 µm x 100 µm
  • Dicke: 50 nm
  • Inhalt: 10 Stück