Siliziumnitrid Membran - TEM Windows, Low-Stress SiN nicht porös
Produktinformationen "Siliziumnitrid Membran - TEM Windows, Low-Stress SiN nicht porös"
Siliziumnitrid Membran - TEM Windows, Low-Stress Siliziumnitrid, nicht porös , Temperaturstabil bis 1000 °C
- Chip-Rahmen: 2.9 mm Ø + 0.1 mm Dicke
- Fenster Größe: (1) 25 µm x 25 µm
- Dicke: 5 nm
- Inhalt: 10 Stück