Quantifoil Siliziumdioxid SiO2 mit unterschiedlichen Lochstrukturen

Quantifoil Siliziumdioxid SiO2 mit unterschiedlichen Lochstrukturen
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Mesh

Trägermaterial

Lochstruktur

  • S211R14C300
Produktinformationen "Quantifoil Siliziumdioxid SiO2 mit unterschiedlichen Lochstrukturen"

Dieser Siliziumoxid-Film besteht aus amorphem SiO2 mit einer Dicke von ca. 10 nm. Die Schicht ist homogen und robust.

  • Lochgröße: 1 µm / Lochabstand: 4 µm
  • Trägermaterial: Kupfer
  • Mesh: 300
  • Verpackungseinheit: 10 Stück
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