Gitterebenen-Testobjekte

Gitterebenen-Testobjekte
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Gitterebenenabstand

  • S118
Die Abstände zwischen Kristall-Gitterebenen geben einen guten Maßstab ab zur Überprüfung der... mehr
Produktinformationen "Gitterebenen-Testobjekte"

Die Abstände zwischen Kristall-Gitterebenen geben einen guten Maßstab ab zur Überprüfung der Stabilität des Elektronenmikroskops und liefern einen Anhaltspunkt zur Auflösung. Da die Gitterebenen-Abstände durch Röntgenstrahlmessungen exakt bekannt   sind, dienen sie auch zur Eichung der Vergrößerung im oberen Vergrößerungsbereich des Instruments.

  • Gitterebenenabstand 1 nm: Kupferphthalocyanin. In der Literatur zur Transmissionselektronenmikroskopie finden sich viele Bilder dieses Materials. Seine Gitterabstände liefern einen praktischen Test; jedoch sind diese Proben strahlempfindlich. Sie verlieren rasch ihre Kristallstruktur unter dem Elektronenstrahl.
  • Gitterebenenabstand 0,9 nm & 0,45 nm: Crocidolit. Die 0,9 nm-Abstände (020) sind entlang der Achse der Crocidolitfasern zu finden; die 0,45 nm-Abstände (021) erscheinen, in geeigneten Kristallorientierungen, in einem Winkel von etwa 60° dazu.
  • Gitterebenenabstand 0,56 nm: Kaliumchloroplatinat
  • Gitterebenenabstand 0,34 nm: Carbon Black in Graphitform. Bei Carbon Black in kristalliner Form, stabil und leicht reproduzierbar, handelt es sich um ein in der Transmissionselektronenmikroskopie übliches Auflösungstestobjekt.
  • Gitterebenenabstand 0,204 nm, 0,143 nm und 0,102 nm: Gerichtete Einkristall-Goldfolie. Die Einstellung des Mikroskops auf die Sicht dieser drei Gitterebenenabstände der spezialbehandelten Kristalle ermöglicht es, die Auflösung, die Bildqualität, die Vergrößerung und die Gerätestabilität in Transmissionsgeräten höherer Auflösung zu überprüfen. Dieser Test ist insbesondere nach einer Höhenverstellung des Probenhalters zu empfehlen. Die Goldfolie ist auf einem Gold-Netzchen montiert.
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