MRS-6 - Geller-Referenz-Standard
Träger: unmontiert | Verpackungseinheit: 1 Stück | Zertifikat: nicht zertifiziert
Die Raster bestehen aus einer dünnen Chromschicht, die eine sehr gute Kantendefinition bietet. Diese ca. 15 nm Chromschicht erbringt zwar ein niedrigeres Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronen-Signal, aber das Bild z. B. der 80 nm-Struktur ist trotzdem sehr gut. Das MRS-6-Testobjekt ist für Instrumentenkalibrierung zwischen x1.500 und x1.000.000 geeignet und wird für Anwendungen im REM, TEM (mit einer Spezialgröße des Standards von 2 mm x 2 mm), STM, AFM und für lichtoptische Auflichtmikroskopie genutzt. Der Standard hat eine Gesamtgröße von etwa 3,2 mm x 3,2 mm x 0,5 mm und ist vollständig elektrisch leitfähig. Auf dem Chip befinden sich verschiedene Strukturen von 3 µm bis 80 nm - pitch (Periodizität) für Auflösungskalibrierungen und für die Linearitätsprüfung zeigt er eine Struktur mit einer Periodizität von 1 µm² über ein Feld von 40 x 40 µm. Eine ½ µm - quadratische Teststruktur mit 1 µm pitch hilft bei der Prüfung und Korrektur von Verzeichnungen, Vibrationen und magnetischen Feldern. Weitere Details auf Nachfrage.
Produktnummer: S2134
MRS-6 - Geller-Referenz-Standard
Träger: unmontiert | Verpackungseinheit: 1 Stück | Zertifikat: NIST und NPL für X, Y zertifiziert
Die Raster bestehen aus einer dünnen Chromschicht, die eine sehr gute Kantendefinition bietet. Diese ca. 15 nm Chromschicht erbringt zwar ein niedrigeres Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronen-Signal, aber das Bild z. B. der 80 nm-Struktur ist trotzdem sehr gut. Das MRS-6-Testobjekt ist für Instrumentenkalibrierung zwischen x1.500 und x1.000.000 geeignet und wird für Anwendungen im REM, TEM (mit einer Spezialgröße des Standards von 2 mm x 2 mm), STM, AFM und für lichtoptische Auflichtmikroskopie genutzt. Der Standard hat eine Gesamtgröße von etwa 3,2 mm x 3,2 mm x 0,5 mm und ist vollständig elektrisch leitfähig. Auf dem Chip befinden sich verschiedene Strukturen von 3 µm bis 80 nm - pitch (Periodizität) für Auflösungskalibrierungen und für die Linearitätsprüfung zeigt er eine Struktur mit einer Periodizität von 1 µm² über ein Feld von 40 x 40 µm. Eine ½ µm - quadratische Teststruktur mit 1 µm pitch hilft bei der Prüfung und Korrektur von Verzeichnungen, Vibrationen und magnetischen Feldern. Weitere Details auf Nachfrage.
Produktnummer: S2135