Geteilter Probenhalter für Hitachi mit M4-Gewinde für dünne Proben oder Wafer
Produktnummer: 15335-4
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Produktinformationen "Geteilter Probenhalter für Hitachi mit M4-Gewinde für dünne Proben oder Wafer"
Geteilter Probenhalter zur Aufnahme von Wafern und dünnen Proben bis zu 3,2 mm (1/8").
- 15 mm Durchmesser x 10 mm Höhe
- Hergestellt aus Aluminium mit Innensechskantschraube aus Edelstahl
- Innensechskantschlüssel enthalten
- Inhalt: 1 Stück