Omniprobe Lift-Out-Grids mit 3 Zapfen & seitlichen Zugriff, Kupfer, Ø 3 mm, Dicke 35 µm
Produktnummer: J426A
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Produktinformationen "Omniprobe Lift-Out-Grids mit 3 Zapfen & seitlichen Zugriff, Kupfer, Ø 3 mm, Dicke 35 µm"
Für das Halten der TEM-Lamellen, die mittels FIB oder REM/FIB-Systemen aus einer Probe ausgeschnitten wurden, gibt es spezielle „Lift-Out-Grids”, die eine uneingeschränkte Sicht auf diese Lamellen erlauben. Das Außenmaß der Lift-Out-Grids ist an den der Standard-TEM-Halter angepasst. Diese Grids verfügen normalerweise über Zapfen, auf denen die Lamellen abgelegt werden können. Bei den Half-Grids gibt es keine Zapfen, dort werden die Lamellen auf der langen inneren Netzchen-Kante befestigt.
- Material: Kupfer
- Maße: Ø 3 mm / Dicke 35 µm
- Anzahl der Zapfen: 3 mit seitlichen Zugriff
- Zapfen-Absenkung: 5 µm
- Verpackungseinheit: 100 Stück