70° und 20° gekippter EBSD Stiftprobenhalter, Pin

Der 70° & 20° EBSD Pre-Tilt Holder ist die ideale Lösung für präzise EBSD-Analysen (Electron Backscatter Diffraction) in Rasterelektronenmikroskopen.
Durch die vorgegebene Neigung von 70° und 20° ermöglicht er optimale Kristallorientierungsanalysen ohne komplizierte Neuausrichtung der Probe.

Gefertigt aus hochwertigem Aluminium, überzeugt der Halter durch geringes Gewicht, Stabilität und exzellente Wärmeleitfähigkeit – ideal für den Einsatz in modernen SEM-Systemen.

Besondere Merkmale & Vorteile

• ✅ Zwei feste Neigungswinkel (70° & 20°) – für optimale EBSD-Geometrie und präzise Messergebnisse.

• ⚙️ Präzisionsgefertigt aus Aluminium – robust, leicht und korrosionsbeständig.

• 🔩 Standardisierte Passform – kompatibel mit gängigen Pin-Stubs (3,2 mm Ø).

• 🧰 Einfache Handhabung – integrierte M3-Edelstahl-Madenschraube zur sicheren Fixierung.

• 🔑 Sofort einsatzbereit – inklusive passendem Inbusschlüssel für schnellen Probenwechsel.