Probenhalter mit Stift für metallografische Schliffe bis Ø 40 mm
Produktinformationen "Probenhalter mit Stift für metallografische Schliffe bis Ø 40 mm"
- REM Stiftprobenhalter für metallografische Schliffe bis zu Ø 40 mm
- Stiftdurchmesser: 3,0 mm
- TFS, FEI, Philips, Zeiss, LEO Tescan, AmRay, Pemtron, Coxem, Aspex, RJLee, Cambridge Instruments, Leica und CamScan
- Verpackungseinheit: 1 Stück
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