Probenhalter mit Stift für metallografische Schliffe bis zu 31,8 mm Ø
Produktinformationen "Probenhalter mit Stift für metallografische Schliffe bis zu 31,8 mm Ø"
- REM Stiftprobenhalter für metallografische Schliffe bis 31,8 mm
- Stiftdurchmesser: 3,0 mm
- TFS, FEI, Philips, Zeiss, LEO Tescan, AmRay, Pemtron, Coxem, Aspex, RJLee, Cambridge Instruments, Leica und CamScan
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktgalerie überspringen 
Similar Items
Probenhalter mit M4 Gewinde für metallographische Schliffe
- Probenhalter für metallographische Schliffe
- Für Schliffe Ø 25 mm
- Verpackungseinheit: 1 Stück
Produktnummer: 15403M
25,50 €*