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Probenhalter mit Stift für metallografische Schliffe bis Ø 31,8 mm

Produktinformationen "Probenhalter mit Stift für metallografische Schliffe bis Ø 31,8 mm"

  • REM Stiftprobenhalter für metallografische Schliffe bis zu Ø 31,8 mm
  • Stiftdurchmesser: 3,0 mm
  • TFS, FEI, Philips, Zeiss, LEO Tescan, AmRay, Pemtron, Coxem, Aspex, RJLee, Cambridge Instruments, Leica und CamScan
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
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Produktnummer: 15403M

Regulärer Preis: 25,50 €