Silizium-Lift-Out-Grids

Soll Metall als Material für FIB-Lift-Out-Grids vermieden werden, sind Silizium-Lift-Out-Grids die geeignete Wahl. Sie finden Einsatz bei der Präparation von in-situ FIB Proben für TEM, Tomographie und Rasterkraftmikroskopie. Sie sind robust und einfach zu handhaben. Mit 3 mm Durchmesser und 100 µm Stärke passen sie in die TEM- und FIB-Halter. Das Silizium ist mit Bor dotiert, um eventuelle Aufladungen zu vermeiden.

• Material: Silizium, mit Bor dotiert
• Maße: Ø 3 mm - 100 µm Stärke
• 4 schmale Zapfen 80 µm x 190 µm x 100 µm (BxLxD)
• Verpackungseinheit: 10 Stück