PELCO X-CHECKER Wafer
Produktnummer: 602-21
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Produktinformationen "PELCO X-CHECKER Wafer"
Die # 602-20 und # 602-21 enthalten:
- Kupferscheibe zur Überprüfung der Spektralkalibrierung
- Mangan 88%, Nickel 12% Legierung zum Test der Detektorauflösung (FWHM)
- Nickel 400 Mesh TEM-Netzchen für die Bildkalibrierung
- PTFE als Fluorquelle zur Messung der niedrigen Energieauflösung
- Kohlenstoff zur Überwachung der Kalibrierung am unteren Ende des Spektrums für Dünnfensterdetektoren
- Aluminiumfolienscheibe
- Bornitrid zum Testen der niedrigen Energieeffizienz / Spitzentrennung
- Edelstahl 304 zur Überprüfung der Quantifizierung
- Gebrauchsanweisung und Clamshell-Wafer-Aufbewahrungskoffer enthalten