PELCO X-CHECKER™ Wafer

Die # 602-20 und # 602-21 enthalten:

• Kupferscheibe zur Überprüfung der Spektralkalibrierung
• Mangan 88%, Nickel 12% Legierung zum Test der Detektorauflösung (FWHM)
• Nickel 400 Mesh TEM-Netzchen für die Bildkalibrierung
• PTFE als Fluorquelle zur Messung der niedrigen Energieauflösung
• Kohlenstoff zur Überwachung der Kalibrierung am unteren Ende des Spektrums für Dünnfensterdetektoren
• Aluminiumfolienscheibe
• Bornitrid zum Testen der niedrigen Energieeffizienz / Spitzentrennung
• Edelstahl 304 zur Überprüfung der Quantifizierung
• Gebrauchsanweisung und Clamshell-Wafer-Aufbewahrungskoffer enthalten