FIB Lift-Out Grids mit 5 Zapfen (Posts), Kupfer
119,05 €
Produktinformationen "FIB Lift-Out Grids mit 5 Zapfen (Posts), Kupfer"
Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.
Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.
Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.
Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.
Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.
Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.
Eigenschaften
- Speziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickelt
- Drei präzisionsgefertigte Aufnahmezapfen (3 Posts)
- Nummerierte Pins zur eindeutigen Probenidentifikation
- Definierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren Aufnahmezapfen
- Aus hochwertigem Kupfer (Cu)
- Geeignet für TEM-Probenpräparation und Nanomanipulation
Technische Daten
- Material: Kupfer
- Anzahl der Posts (Zapfen): 5
- Alle Zapfen (Posts): 60 µm Breite x 200 µm Länge
- Spitzenform: V-förmig
- Shelf-Breite: 20 µm
- Verpackungseinheit: 100 Stück