gewinkelter Probenhalter 70° für EBSD, Ø 15 x 10mm für JEOL & ISI/ABT/Topcon
Produktinformationen "gewinkelter Probenhalter 70° für EBSD, Ø 15 x 10mm für JEOL & ISI/ABT/Topcon"
Eine Auswahl an gewinkelten bzw. angeschrägten JEOL Probenhalter aus Aluminium zur schnellen und einfachen Untersuchung von Proben unter einen bestimmten Neigungswinkel.
- Winkel: angeschrägt 70° für EBSD
- Maße: Ø 15 mm x 10 mm hoch
- Material: Aluminium
- Verpackungseinheit: 10 Stück