Low Profile 36° Stiftprobenteller für FIB, Ø 12,7 Stiftlänge 6 mm für Zeiss/LEO

Probenteller mit niedrigem Profil kommen speziell bei REM- und FIB-Anwendungen zum Einsatz. Diese ermöglichen einen kurzen Arbeitsabstand zwischen Probe und Polschuh des entsprechenden Systems. Erhältlich sind die Probenteller in unterschiedlichen flachen, vertikalen und im FIB-Winkel angeschrägten Versionen. Letztere werden verwendet, um die Probe im rechten Winkel zur FIB-Säule zu untersuchen, ohne die Probenbühne kippen zu müssen.

• 36° Schräge
• Stiftmaße: Ø 12,7 mm, Stiftlänge 6 mm für ZEISS/LEO
• Gesamthöhe: 9,15 mm
• Verpackungseinheit: 10 Stück