Stiftprobenteller mit niedrigem Profil für FIB Anwendungen

Probenteller mit niedrigem Profil kommen speziell bei REM- und FIB-Anwendungen zum Einsatz. Diese ermöglichen einen kurzen Arbeitsabstand zwischen Probe und Polschuh des entsprechenden Systems. Erhältlich sind die Probenteller in unterschiedlichen flachen, vertikalen und im FIB-Winkel angeschrägten Versionen. Letztere werden verwendet, um die Probe im rechten Winkel zur FIB-Säule zu untersuchen, ohne die Probenbühne kippen zu müssen.

• Flaches, niedriges Profil
• Probenteller nur 1 mm dick
• Verpackungseinheit: 10 Stück