gewinkelter Probenhalter 30°, Ø 25 x 20 mm für JEOL & ISI/ABT/Topcon
Produktinformationen "gewinkelter Probenhalter 30°, Ø 25 x 20 mm für JEOL & ISI/ABT/Topcon"
Eine Auswahl an gewinkelten bzw. angeschrägten JEOL Probenhalter aus Aluminium zur schnellen und einfachen Untersuchung von Proben unter einen bestimmten Neigungswinkel.
- Form: angeschrägt 30°
- Ø 25 mm x 20 mm hoch
- Material: Aluminium
- Verpackungseinheit: 10 Stück