PELCO X-CHECKER™ Wafer

PELCO X-CHECKER™ Wafer
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Verpackungseinheit

1 Stück

Wafertyp

  • 602-21
Die # 602-20 und # 602-21 enthalten: Kupferscheibe zur Überprüfung der Spektralkalibrierung... mehr
Produktinformationen "PELCO X-CHECKER™ Wafer"

Die # 602-20 und # 602-21 enthalten:

  • Kupferscheibe zur Überprüfung der Spektralkalibrierung
  • Mangan 88%, Nickel 12% Legierung zum Test der Detektorauflösung (FWHM)
  • Nickel 400 Mesh TEM-Netzchen für die Bildkalibrierung
  • PTFE als Fluorquelle zur Messung der niedrigen Energieauflösung
  • Kohlenstoff zur Überwachung der Kalibrierung am unteren Ende des Spektrums für Dünnfensterdetektoren
  • Aluminiumfolienscheibe
  • Bornitrid zum Testen der niedrigen Energieeffizienz / Spitzentrennung
  • Edelstahl 304 zur Überprüfung der Quantifizierung
  • Gebrauchsanweisung und Clamshell-Wafer-Aufbewahrungskoffer enthalten
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