3-D Test-Raster für Spitzenschärfe TGTZ-400 (montiert auf AFM-Scheibe)

3-D Test-Raster für Spitzenschärfe TGTZ-400 (montiert auf AFM-Scheibe)
599,00 € *

zzgl. MwSt. zzgl. Versandkosten

  • S629-50AFM
2-D Feld (2 mm x 2 mm) in der obersten Schicht mit sehr spitzen Peaks, Peakhöhe zwischen 0,3... mehr
Produktinformationen "3-D Test-Raster für Spitzenschärfe TGTZ-400 (montiert auf AFM-Scheibe)"
  • 2-D Feld (2 mm x 2 mm) in der obersten Schicht mit sehr spitzen Peaks,
    Peakhöhe zwischen 0,3 µm und 0,7 µm
  • Spitzenwinkel ca. 50° (Spitzenradius
  • 2-D Peak-zu-Peak Abstand ca. 3 µm +/- 0,01 µm
  • Diagonaler Peak-zu-Peak Abstand ca. 2,12 µm
  • Si-Chip Größe ca. 5 mm x 5 mm x 0,5 mm

  • Montiert auf einer 12 mm Durchmesser AFM-Scheibe
    S629-50-detail

Dieses Raster TGTZ-400 ist für die 3-D-Visualisierung der Scan-Spitze, der Bestimmung der Spitzen-Schärfe-Parameter, Spitzen-Abnutzung und Kontaminierungsprüfung vorgesehen. Silizium-Chip mit Raster, bestehend aus scharfen Spitzen. Spitzenwinkel ca. 50°, Kantenradius ? 10 nm, Höhe der Spitzen 0,3 - 0,7 µm, Pitch (Periodizität) 3 µm ± 0,01 µm, diagonale Pitch 2,12 µm. Das Außenmaß des Si-Chips beträgt 5 mm x 5 mm x 0,5 mm, die Fläche mit dem effektiven Rasterbereich 2 mm x 2 mm.

 

 

Zuletzt angesehen