Pelcotec™ Vergrößerungsstandard LMS-20 für niedrige Vergrößerungen x5 bis x1000

Dieser Pelcotec™ Vergrößerungsstandard LMS-20 wurde speziell für die präzise Kalibrierung von niedrigen Vergrößerungen entwickelt, wie sie bei Partikelanalysen großer Flächen, Schmauchspuren-analyse im Rasterelektronenmikroskop, aber auch für Anwendungen mit dem Lichtmikroskop vorkommen. Das Pelcotec™ LMS-20 kann von x5 bis x1000 Vergrößerung sinnvoll eingesetzt werden.

Der Kalibrierbereich beträgt 20 mm x 10 mm mit gekreuzten Linien und Unterteilungen in 10 µm – Schritte. Diese 10 µm - Unterteilungen entlang der zentralen X und Y – Achsenline bestehen aus 200 nm breiten Chrom–Linien auf einem ultraflachen Siliziumchip (22 mm x 11 mm, Dicke 525 µm +/- 10 µm, Orientierung , Bor dotiert, mit einem Widerstand von 5 – 10 Ohm/cm). Über die X und Y – Achse zeigen größere Linien 0,5 mm bzw. 1 mm Abstände an. In den Quadranten sind kleine Kreuzchen (für den 0,1 mm Abstand) und größere Kreuze (für den 1,0 mm Abstand) als Orientierungshilfe vorhanden. Eine Seriennummer ist auf jedem einzelnen Testobjekt aufgebracht. Die auf NIST (National Institute of Standards) rückführbare zertifizierte Version ist Pelcotec™ LMS-20T, die vollständig individuell zertifizierte Version (auf NIST rückführbar) ist Pelcotec™ LMS-20C.