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Auflösungs- und Grauwert-Testobjekte

Die Auflösung eines Rasterelektronenmikroskops wird durch die Kombination zweier Kriterien bestimmt, nämlich der Sichtbarkeit von Zwischenräumen und dem Grauwertkontrast eines Bildes. Dabei ist darauf zu achten, daß die Auflösung nicht durch Kontrastmaximierung beeinträchtigt wurde. Bilder hoher Auflösung zeigen idealerweise feine Details, bei wenig Rauschen und einem weiten Bereich an Grauwerten. Die kleinsten Kugeln können für die Astigmatismus-Korrektur bei höchsten Vergrößerungen verwendet werden.

Universal-Testobjekt Zinn auf Kohle, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm

Universal-Testobjekt-Zinn

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1937 REM Sn-C Universal-Testobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8mm Stiftlänge)

188,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1937A REM Sn-C Universal-Testobjekt auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø

188,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1937B REM Sn-C Universal-Testobjekt auf ISI/ABT Probenteller

188,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1937C REM Sn-C Universal-Testobjekt auf HITACHI Probenteller

188,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1937D REM Sn-C Universal-Testobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge)

188,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1937E REM Sn-C Universal-Testobjekt auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø

188,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1937T REM Sn-C Universal-Testobjekt auf dünner Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm Ø

188,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1937U REM Sn-C Universal-Testobjekt auf Kohlescheibe 2 mm dick / 6 mm Ø

188,80 € *

 
 
 

Auflösungs-Testobjekt Zinn auf Kohle, Teilchengröße 10 nm - 100 nm

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1967 REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge)

138,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1967A REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø

138,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1967B REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf ISI/ABT Probenteller

138,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1967C REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf HITACHI Probenteller

138,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1967D REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge)

138,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1967E REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø

138,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1967T REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf dünner Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm Ø

138,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1967U REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf Kohlescheibe 2 mm dick / 6 mm Ø

138,00 € *

 
 
 

Auflösungs-Testobjekt für LowKV, Zinn auf Kohle

Aufl-sungs-Testobjekt-f-r-LowKV

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1988 LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge)

177,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1988A LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø

177,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1988B LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf ISI/ABT Probenteller

177,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1988C LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf HITACHI Probenteller

177,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1988D LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge)

177,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1988E LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø

177,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1988T LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf dünner Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm Ø

177,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1988U LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf Kohlescheibe 2 mm dick / 6 mm Ø

177,00 € *

 
 
 

Hochauflösung - Gold auf Kohle, Teilchengröße 5 nm - 150 nm

Zur Bestimmung der Auflösung wurde ein neues Format des anerkannten Gold-auf-Kohle-Tests entwickelt. Das Testobjekt ist sowohl für die Betrachtung im Sekundärelektronen- als auch im Rückstreuelektronenmodus geeignet und ist weiterhin für das „Mapping“ in Hochauflösungssystemen, wie dem Auger-Raster, einsetzbar. Das Testobjekt besitzt ein quadratisches Netzchenmuster, mit großen Kristallen im Zentrum jedes Netzchen-Quadrates und sehr feinen Kristallen an den Rändern jedes Netzchens (vgl. Foto). Somit läßt sich mit demselben Testobjekt die Auflösung mit mittleren und kleinen Zwischenräumen überprüfen. Zusätzlich zeigen die größeren Kristalle Facetten, die die Feststellung der Grauwertwiedergabe bei hoher Auflösung erlauben.

Hochaufl-sung-Gold-auf-Kohle-Teilchengr-sse

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168 REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8mm Stiftlänge)

94,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168A REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø

94,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168B REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf ISI/ABT Probenteller

94,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168C REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf HITACHI Probenteller

94,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168D REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge)

94,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168E REM-Hochauflösungstestobj. Au-C auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø

94,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168T REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf dünner Kohlescheibe

94,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168U REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf 2 mm dicker Kohlescheibe

89,90 € *

 
 
 

Mit Goldteilchen<30 nm bis 300 nm für LowKV-Arbeiten

Testobjekt-10-mm-JEOL-Probenteller

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168AZ Low kV Au-C Testobjekt auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø

119,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168BZ Low kV Au-C Testobjekt auf ISI/ABT Probenteller

119,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168CZ Low kV Au-C Testobjekt auf HITACHI Probenteller

119,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168DZ Low kV Au-C Testobjekt auf auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge)

119,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168EZ Low kV Au-C Testobjekt auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø

119,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168TZ Low kV Au-C Testobjekt auf dünner Kohlescheibe

119,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168UZ Low kV Au-C Testobjekt auf 2 mm dicker Kohlescheibe

119,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168Z Low kV Au-C Testobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge)

119,90 € *

 
 
 

Höchstauflösung - Gold auf Kohle, Teilchengröße < 3 nm - 50 nm

Dieses Testobjekt besitzt im Vergleich zu S168 kleinere Teilchen in den Goldinseln und eignet sich daher für Messungen oberhalb x50.000. Die Teilchengröße liegt zwischen < 2 nm und 30 nm.

 

 

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1969 REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge)

149,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1969A REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø

149,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1969B REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf ISI/ABT Probenteller

149,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1969C REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf HITACHI Probenteller

149,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1969D REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge)

149,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1969E REM-Höchstauflösungstestobj. Au-C auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø

149,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1969T REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf dünner Kohlescheibe

149,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1969U REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf 2 mm dicker Kohlescheibe

149,90 € *

 
 
 

Ultra-Auflösungs-Testobjekt, Gold auf Kohle, Teilchengröße < 2 nm – 30 nm

Aufl-sungs-Testobjekt

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1987 Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge)

239,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1987A Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø

239,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1987B Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf ISI/ABT Probenteller

239,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1987C Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf HITACHI Probenteller

239,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1987D Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge)

239,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1987E Ultra-Auflösungstestobj. Au-C auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø

239,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1987T Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf dünner Kohlescheibe

239,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1987U Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf 2 mm dicker Kohlescheibe

239,90 € *

 
 
 

Auflösungstestobjekte auf alternativen Substraten

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168SI 5 - 150 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

114,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168SI-10 5 - 150 nm Au-C auf Si-Substrat 10 mm x 10 mm x 500 µm dick

123,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168ZSI 30 - 300 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

129,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1937SI 5nm - 30 µm Sn-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

219,10 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1937VT 5 - 30 nm Sn-C auf C-Substrat 7 mm x 7 mm x 130 µm dick

273,10 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1967SI 10 - 100 nm Sn-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

167,10 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1969SI 3 - 50 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

159,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1987SI 2 - 30 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

329,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1988SI 20 - 400 nm Sn-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

185,00 € *

 
 
 

AuSome™ Nano-Goldpartikel 38 nm und 27,3 nm als Hochauflösungstestobjekt

Diese Nano-Gold-Partikel mit bekannter Größe und Uniformität (Standardabweichung: 38 nm ± 4 nm, 27,3 nm ± 6,3 nm), befinden sich auf einem Siliziumsubstrat mit 5 mm x 5 mm Größe.

ausome1                                                ausome2

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S20680 AuSome™ Nano-Goldpart. 38 nm Hochauflösungstestobjekt, unmontiert

139,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S20680-A AuSome™ Nano-Goldpart. 38 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Stiftprobenteller (8 mm langer Stift)

152,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S20680-C AuSome™ Nano-Goldpart. 38 nm Hochaufl-testobjekt, mont. auf Jeol-Probenträger 9,5 mm Ø x 9,5 mm hoch

152,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S20680-F AuSome™ Nano-Goldpart. 38 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Stiftprobenteller (6 mm langer Stift)

152,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S20680-K AuSome™ Nano-Goldpart. 38 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Hitachi M4-Probenträger 15 mm Ø x 6 mm

152,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S20681 AuSome™ Nano-Goldpart. 27,3 nm Hochauflösungstestobjekt, unmontiert

139,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S20681-A AuSome™ Nano-Goldpart. 27,3 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Stiftprobenteller (8 mm langer Stift)

152,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S20681-C AuSome™ Nano-Goldpart. 27,3 nm Hochaufl-testobjekt, mont. auf Jeol-Probenträger 9,5 mm Ø x 9,5 mm ho

152,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S20681-F AuSome™ Nano-Goldpart. 27,3 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Stiftprobenteller (6 mm langer Stift)

152,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S20681-K AuSome™ Nano-Goldpart. 27,3 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Hitachi M4-Probenträger 15 mm Ø x 6 m

152,00 € *

 
 
 

Goldpartikel AuSome™ 117,3 nm und 27,3 nm als Dual-Hochauflösungs – und Kalibriertestobjekt

Auf diesem AuSome™ Dual-Hochauflösungs – und Kalibriertestobjekt befinden sich 2 definierte Größen von Goldpartikeln. 117,3 nm (Standardabweichung 8,4 nm) und 27,3 nm (Standardabweichung 6,3 nm). AuSome™ bietet einen angestrebten Monolayer von Goldpartikeln mit möglichst gleichförmigen Abständen der Partikel untereinander.

AuSome3                                        AuSome4

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
682 AuSome™ Dual/Testobjekt, Goldpart. 117,3 nm und 27,3 nm, unmontiert

183,30 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
682-A AuSome™ Dual/Testobjekt, Goldpart. 117,3 nm / 27,3 nm, mont. auf Stiftprobenteller (8 mm langer Stif

178,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
682-C AuSome™ Dual/Testobjekt, Goldpart. 117,3 nm / 27,3 nm, mont. auf Jeol-Probenträger 9,5 mm Ø x 9,5 mm

178,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
682-F AuSome™ Dual/Testobjekt, Goldpart. 117,3 nm / 27,3 nm, mont. auf Stiftprobenteller (6 mm langer Sti

178,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
682-K AuSome™ Dual/Testobjekt, Goldpart. 117,3 nm / 27,3 nm, mont. auf Hitachi M4-Probentr. 15 mm Ø x 6 m

178,90 € *

 
 
 

Auflösungstestobjekte auf alternativen Substraten : Zinn auf Si / Gold auf Si

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168SI 5 - 150 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

114,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168SI-10 5 - 150 nm Au-C auf Si-Substrat 10 mm x 10 mm x 500 µm dick

123,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S168ZSI 30 - 300 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

129,90 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1967SI 10 - 100 nm Sn-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

167,10 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1969SI 3 - 50 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

159,00 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1987SI 2 - 30 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

329,80 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1988SI 20 - 400 nm Sn-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick

185,00 € *

 
 
 

Mittlere Auflösung - Aluminium-Wolfram-Dendriten

Die unterschiedlichen, durch die Dendritenstruktur bedingten Abstände erlauben den Abstandstest, die topografische Anordnung der Dendriten dient der Kontrastprüfung. Das Testobjekt ist unmagnetisch, vakuumfest, elektronenstrahlkompatibel und bedarf keiner Beschichtung. Es ist besonders geeignet für den Auflösungsbereich von 25 nm bis 75 nm. Es lässt sich mit Leitsilber oder Leit-C leicht auf jedem Probenteller anbringen.

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S145 REM-Auflösungstestobjekt mit Dendriten, unmontiert

277,00 € *

REM-Auflösungstestobjekt mit Dendriten, unmontiert

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PELCO-Prickly-Gold (Astigmatismus)

Dieses Testobjekt besteht aus 1000 mesh „Prickly-Gold“, das auf einem Probenteller montiert ist. Es eignet sich hervorragend zur Korrektur des Astigmatismus.

PELCO

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1968 Prickly Gold Testobjekt, auf 12,5 mm-Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge)

66,30 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1968A Prickly Gold Testobjekt, auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø

66,30 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1968B Prickly Gold Testobjekt, auf ISI/ABT Probenteller

66,30 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1968C Prickly Gold Testobjekt, auf HITACHI Probenteller

66,30 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1968D Prickly Gold Testobjekt, auf 12,5 mm-Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge)

66,30 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1968E Prickly Gold Testobjekt, auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø

66,30 € *

 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1968U Prickly Gold Testobjekt, unmontiert

66,30 € *

 
 
 

Universal-Kalibrierstandard für REM-EDX

In Rasterelektronenmikroskopen mit energiedispersiven Röntgenanalysesystemen müssen die Vergrößerung, die Auflösung, der Primärstrom, die Lage der EDX-Spektren und die Qualität des Rückstreuelektronendetektors überprüft werden. Dafür gibt es die in diesem Kapitel beschriebenen einzelnen Testobjekte. In dem REM-Kalibrierblock (S1919) sind diese Testobjekte auf einer Messingscheibe von 32 mm Durchmesser und 5 mm Höhe zusammengefasst. Vom Anwender werden 6 Einzelstandards ausgewählt (aus der Standardliste der Firma Micro Analysis Consultants MAC in der Rubrik "Standards für die Mikroanalyse"), die in diesen Block zusätzlich eingesetzt werden.

Weiterhin gibt es die Möglichkeit eine Variante bestückt mit 7 festgelegten Standards (Mn, Cr, C, Ni, PTFE, Co, AISI 316), einem PLANOTEC Silizium-Testobjekt und einem Faraday-Käfig zu wählen (S1919-7S). Co = Traceable to NIST, AISI 316 = CRM Stainless Steel.

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1919 Universal-Kalibrierstandard f. REM-EDX (6 Standards Ihrer Wahl + Si-Testobjekt + Au/C + DuplexBrass)

2.490,00 € *

Universal-Kalibrierstandard f. REM-EDX (6 Standards Ihrer Wahl + Si-Testobjekt + Au/C + DuplexBrass)
 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1919-7S EDX-Kalibrierstandard mit 7 Standards (Mn,Cr,C,Ni,PTFE,Co,AISI316) + Si-Testobjekt + Faraday Cup

1.777,00 € *

EDX-Kalibrierstandard mit 7 Standards (Mn,Cr,C,Ni,PTFE,Co,AISI316) + Si-Testobjekt + Faraday Cup
 
 
 

Referenzobjekte für Rückstreuelektronen-Detektorsysteme

Ein Elektronenmikroskop, das mit einem Rückstreuelektronen-Detektor ausgestattet ist, hat die Möglichkeit der Erzeugung von Bildern, auf welchen der Kontrast durch den Unterschied der Atomordnungszahl über die Probe bestimmt ist. Zur Überprüfung des Atomzahlkontrastes stehen jetzt drei Testobjekte zur Verfügung. Jedes davon besteht aus zwei hochreinen Elementen mit einem Unterschied der Atomzahl von Z = 1. Das Element mit der niedrigeren Atomzahl ist in Form eines Drahtes in das Element mit der höheren Atomzahl eingefügt. Diese Testobjekte sind einzeln gefasst in Hülsen von 3 mm oder 5 mm Durchmesser erhältlich oder als Teil eines Vielfachhalters.

Referenzobjekte

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1950 Ni/Cu BSE Referenzobjekt

355,00 € *

Ni/Cu BSE Referenzobjekt
 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1951 Pd/Ag BSE Referenzobjekt

355,00 € *

Pd/Ag BSE Referenzobjekt
 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1952 Pt/Au BSE Referenzobjekt

355,00 € *

Pt/Au BSE Referenzobjekt
 
 
 
Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1954 Al/Si BSE Referenzobjekt

355,00 € *

Al/Si BSE Referenzobjekt
 
 
 

DUPLEX-Referenzobjekt

Mit diesem Objekt läßt sich ein weiterer und sehr empfindlicher Atomzahl-Kontrast-Test durchführen. Es weist eine Legierung mit zwei größeren Kupfer/Zink-Phasen auf, die durch einen Atomzahl-Unterschied von 0,1 getrennt sind. Die auf dem Bild gezeigte helle Phase besitzt die Atomordnungszahl Z = 29,47, die dunkle Phase Z = 29,37. Die Aufnahme wurde mit einem Halbleiter-Rückstreuelektronendetektor gemacht.

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
S1953 DUPLEX Referenzobjekt

419,10 € *

DUPLEX Referenzobjekt
 
 
 

Rückstreuelektronen-Kombistandard

Zur Beurteilung der Signale eines Rückstreuelektronendetektors werden Materialkombinationen mit bekannten Atomordnungszahlen benötigt. MAC bieten einen Standardhalter von 30 mm Durchmesser und 5 mm Höhe an, der folgende Materialien enthält:

•Messinglegierungen mit einem Atomordnungsunterschied von Z = 0,1.

• Elementreferenzen

   Aluminium (Z = 13) - Silizium (Z = 14)

   Nickel (Z = 28) - Kupfer (Z = 29)

   Palladium (Z = 46) - Silber (Z = 47)

   Platin (Z = 78) - Gold (Z = 79)

• Glaskohlenstoff

• Faradaykäfig

Artikelnummer Artikelbezeichnung Preis Bild Anzahl
NM231 Rückstreuelektronen-Kombistandard

2.096,00 € *

Rückstreuelektronen-Kombistandard
 
 
 

Testobjekte für die Transmissionselektronenmikroskopie

Die von Agar Scientific gefertigten Testobjekte sind weltweit für ihre Qualität und Verlässlichkeit bekannt. Sie werden nach einem optischen Prüfvorgang individuell im Elektronenmikroskop getestet. Ein Testobjekt wird ausgesondert, wenn es mehr als 5 % gebrochene Netzchenquadrate aufweist oder zu sehr verschmutzt ist bzw. unzureichende Bildqualität aufweist.

 
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