Plano GmbH
Ernst-Befort Strasse 12
D-35578 Wetzlar
Tel:+49 (0) 6441 97650
Fax:+49 (0) 6441 976565
E-Mail:plano@plano-em.de
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Universal-Testobjekt Zinn auf Kohle, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm
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Auflösungs-Testobjekt Zinn auf Kohle, Teilchengröße 10 nm -100 nm
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Auflösungs-Testobjekt für LowKV, Zinn auf Kohle
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Hochauflösung - Gold auf Kohle, Teilchengröße 5 nm - 150 nm
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Mit Goldteilchen < 30 nm bis 300 nm für LowKV-Arbeiten
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Höchstauflösung - Gold auf Kohle, Teilchengröße < 3 nm - 50 nm
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Ultra-Auflösungs-Testobjekt, Gold auf Kohle, Teilchengröße < 2 nm 30 nm
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Auflösungstestobjekte auf alternativen Substraten
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AuSome Nano-Goldpartikel 38 nm und 27,3 nm als Hochauflösungstestobjekt für REM, FESEM und FIB/REM
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Goldpartikel AuSome 117,3 nm und 27,3 nm als Dual-Hochauflösungs und Kalibriertestobjekt
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Auflösungstestobjekte auf alternativen Substraten : Zinn auf Si / Gold auf Si
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Mittlere Auflösung - Aluminium-Wolfram-Dendriten
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PELCO-Prickly-Gold (Astigmatismus)
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Universal-Kalibrierstandard für REM-EDX
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Referenzobjekte für Rückstreuelektronen-Detektorsysteme (Ni/Cu, Pd/Ag, Pt/Au, Al/Si)
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DUPLEX-Referenzobjekt
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Rückstreuelektronen-Kombistandard
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Testobjekte für die Transmissionselektronenmikroskopie
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Universal-Testobjekt Zinn auf Kohle, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm
Auflösungs- und Grauwert-Testobjekte
Die Auflösung eines Rasterelektronenmikroskops wird durch die Kombination zweier Kriterien bestimmt, nämlich der Sichtbarkeit von Zwischenräumen und dem Grauwertkontrast eines Bildes. Dabei ist darauf zu achten, daß die Auflösung nicht durch Kontrastmaximierung beeinträchtigt wurde. Bilder hoher Auflösung zeigen idealerweise feine Details, bei wenig Rauschen und einem weiten Bereich an Grauwerten. Die kleinsten Kugeln können für die Astigmatismus-Korrektur bei höchsten Vergrößerungen verwendet werden.
Universal-Testobjekt Zinn auf Kohle, Teilchengröße < 5 nm - 30 µm
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S1937 | REM Sn-C Universal-Testobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8mm Stiftlänge) |
179,00 € * |
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S1937A | REM Sn-C Universal-Testobjekt auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø |
179,00 € * |
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S1937B | REM Sn-C Universal-Testobjekt auf ISI/ABT Probenteller |
179,00 € * |
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S1937C | REM Sn-C Universal-Testobjekt auf HITACHI Probenteller |
179,00 € * |
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S1937D | REM Sn-C Universal-Testobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) |
179,00 € * |
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S1937E | REM Sn-C Universal-Testobjekt auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø |
179,00 € * |
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S1937T | REM Sn-C Universal-Testobjekt auf dünner Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm Ø |
179,00 € * |
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S1937U | REM Sn-C Universal-Testobjekt auf Kohlescheibe 2 mm dick / 6 mm Ø |
179,00 € * |
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Auflösungs-Testobjekt Zinn auf Kohle, Teilchengröße 10 nm - 100 nm
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S1967 | REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge) |
129,00 € * |
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S1967A | REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø |
129,00 € * |
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S1967B | REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf ISI/ABT Probenteller |
129,00 € * |
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S1967C | REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf HITACHI Probenteller |
129,00 € * |
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S1967D | REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) |
129,00 € * |
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S1967E | REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø |
129,00 € * |
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S1967T | REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf dünner Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm Ø |
129,00 € * |
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S1967U | REM Sn-C Auflösungstestobjekt auf Kohlescheibe 2 mm dick / 6 mm Ø |
129,00 € * |
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Auflösungs-Testobjekt für LowKV, Zinn auf Kohle, Teilchengröße < 20 nm - 400 nm
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S1988 | LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge) |
168,00 € * |
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S1988A | LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø |
168,00 € * |
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S1988B | LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf ISI/ABT Probenteller |
168,00 € * |
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S1988C | LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf HITACHI Probenteller |
168,00 € * |
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S1988D | LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) |
168,00 € * |
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S1988E | LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø |
168,00 € * |
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S1988T | LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf dünner Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm Ø |
168,00 € * |
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S1988U | LowKV Sn-C Auflösungstestobjekt auf Kohlescheibe 2 mm dick / 6 mm Ø |
168,00 € * |
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Hochauflösung - Gold auf Kohle, Teilchengröße 5 nm - 150 nm
Zur Bestimmung der Auflösung wurde ein neues Format des anerkannten Gold-auf-Kohle-Tests entwickelt. Das Testobjekt ist sowohl für die Betrachtung im Sekundärelektronen- als auch im Rückstreuelektronenmodus geeignet und ist weiterhin für das „Mapping“ in Hochauflösungssystemen, wie dem Auger-Raster, einsetzbar. Das Testobjekt besitzt ein quadratisches Netzchenmuster, mit großen Kristallen im Zentrum jedes Netzchen-Quadrates und sehr feinen Kristallen an den Rändern jedes Netzchens (vgl. Foto). Somit läßt sich mit demselben Testobjekt die Auflösung mit mittleren und kleinen Zwischenräumen überprüfen. Zusätzlich zeigen die größeren Kristalle Facetten, die die Feststellung der Grauwertwiedergabe bei hoher Auflösung erlauben.
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S168 | REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8mm Stiftlänge) |
89,80 € * |
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S168A | REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø |
89,80 € * |
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S168B | REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf ISI/ABT Probenteller |
89,80 € * |
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S168C | REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf HITACHI Probenteller |
89,80 € * |
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S168D | REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) |
89,80 € * |
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S168E | REM-Hochauflösungstestobj. Au-C auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø |
89,80 € * |
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S168T | REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf dünner Kohlescheibe |
89,80 € * |
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S168U | REM-Hochauflösungstestobjekt Au-C auf 2 mm dicker Kohlescheibe |
86,75 € * |
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Mit Goldteilchen < 30 nm bis 300 nm für LowKV-Arbeiten
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S168AZ | Low kV Au-C Testobjekt auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø |
108,90 € * |
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S168BZ | Low kV Au-C Testobjekt auf ISI/ABT Probenteller |
108,90 € * |
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S168CZ | Low kV Au-C Testobjekt auf HITACHI Probenteller |
108,90 € * |
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S168DZ | Low kV Au-C Testobjekt auf auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) |
108,90 € * |
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S168EZ | Low kV Au-C Testobjekt auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø |
108,90 € * |
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S168TZ | Low kV Au-C Testobjekt auf dünner Kohlescheibe |
116,80 € * |
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S168UZ | Low kV Au-C Testobjekt auf 2 mm dicker Kohlescheibe |
108,90 € * |
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S168Z | Low kV Au-C Testobjekt auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge) |
108,90 € * |
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Höchstauflösung - Gold auf Kohle, Teilchengröße < 3 nm - 50 nm
Dieses Testobjekt besitzt im Vergleich zu S168 kleinere Teilchen in den Goldinseln und eignet sich daher für Messungen oberhalb x50.000. Die Teilchengröße liegt zwischen < 2 nm und 30 nm.
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S1969 | REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge) |
138,80 € * |
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S1969A | REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø |
138,80 € * |
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S1969B | REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf ISI/ABT Probenteller |
138,80 € * |
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S1969C | REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf HITACHI Probenteller |
138,80 € * |
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S1969D | REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) |
138,80 € * |
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S1969E | REM-Höchstauflösungstestobj. Au-C auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø |
138,80 € * |
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S1969T | REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf dünner Kohlescheibe |
138,80 € * |
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S1969U | REM-Höchstauflösungstestobjekt Au-C auf 2 mm dicker Kohlescheibe |
138,80 € * |
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Ultra-Auflösungs-Testobjekt, Gold auf Kohle, Teilchengröße < 2 nm 30 nm
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S1987 | Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge) |
239,90 € * |
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S1987A | Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø |
239,90 € * |
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S1987B | Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf ISI/ABT Probenteller |
239,90 € * |
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S1987C | Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf HITACHI Probenteller |
239,90 € * |
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S1987D | Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) |
239,90 € * |
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S1987E | Ultra-Auflösungstestobj. Au-C auf JEOL-Probenteller 12,5 mm Ø |
239,90 € * |
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S1987T | Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf dünner Kohlescheibe |
239,90 € * |
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S1987U | Ultra-Auflösungstestobjekt Au-C auf 2 mm dicker Kohlescheibe |
239,90 € * |
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Auflösungstestobjekte auf alternativen Substraten
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S168SI | 5 - 150 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
98,80 € * |
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S168SI-10 | 5 - 150 nm Au-C auf Si-Substrat 10 mm x 10 mm x 500 µm dick |
0,01 € * |
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Preis auf Anfrage
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S168ZSI | 30 - 300 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
124,30 € * |
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S1937SI | 5nm - 30 µm Sn-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
208,70 € * |
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S1967SI | 10 - 100 nm Sn auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
159,80 € * |
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S1969SI | 3 - 50 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
149,80 € * |
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S1987SI | 2 - 30 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
329,80 € * |
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S1988SI | 20 - 400 nm Sn-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
176,00 € * |
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AuSome Nano-Goldpartikel 38 nm und 27,3 nm als Hochauflösungstestobjekt
Diese Nano-Gold-Partikel mit bekannter Größe und Uniformität (Standardabweichung: 38 nm ± 4 nm, 27,3 nm ± 6,3 nm), befinden sich auf einem Siliziumsubstrat mit 5 mm x 5 mm Größe.
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S20680 | AuSome™ Nano-Goldpart. 38 nm Hochauflösungstestobjekt, unmontiert |
139,90 € * |
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S20680-A | AuSome™ Nano-Goldpart. 38 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Stiftprobenteller (8 mm langer Stift) |
148,00 € * |
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S20680-C | AuSome™ Nano-Goldpart. 38 nm Hochaufl-testobjekt, mont. auf Jeol-Probenträger 9,5 mm Ø x 9,5 mm hoch |
148,00 € * |
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S20680-F | AuSome™ Nano-Goldpart. 38 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Stiftprobenteller (6 mm langer Stift) |
148,00 € * |
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S20680-K | AuSome™ Nano-Goldpart. 38 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Hitachi M4-Probenträger 15 mm Ø x 6 mm |
148,00 € * |
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S20681 | AuSome™ Nano-Goldpart. 27,3 nm Hochauflösungstestobjekt, unmontiert |
139,90 € * |
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S20681-A | AuSome™ Nano-Goldpart. 27,3 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Stiftprobenteller (8 mm langer Stift) |
148,00 € * |
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S20681-C | AuSome™ Nano-Goldpart. 27,3 nm Hochaufl-testobjekt, mont. auf Jeol-Probenträger 9,5 mm Ø x 9,5 mm ho |
148,00 € * |
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S20681-F | AuSome™ Nano-Goldpart. 27,3 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Stiftprobenteller (6 mm langer Stift) |
148,00 € * |
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S20681-K | AuSome™ Nano-Goldpart. 27,3 nm Hochaufl.-testobjekt, mont. auf Hitachi M4-Probenträger 15 mm Ø x 6 m |
148,00 € * |
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Goldpartikel AuSome 117,3 nm und 27,3 nm als Dual-Hochauflösungs und Kalibriertestobjekt
Auf diesem AuSome™ Dual-Hochauflösungs – und Kalibriertestobjekt befinden sich 2 definierte Größen von Goldpartikeln. 117,3 nm (Standardabweichung 8,4 nm) und 27,3 nm (Standardabweichung 6,3 nm). AuSome™ bietet einen angestrebten Monolayer von Goldpartikeln mit möglichst gleichförmigen Abständen der Partikel untereinander.
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
682 | AuSome Dual/Testobjekt, Goldpart. 117,3 nm und 27,3 nm, unmontiert |
179,80 € * |
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682-A | AuSome Dual/Testobjekt, Goldpart. 117,3 nm / 27,3 nm, mont. auf Stiftprobenteller (8 mm langer Stif |
192,20 € * |
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682-C | AuSome Dual/Testobjekt, Goldpart. 117,3 nm / 27,3 nm, mont. auf Jeol-Probenträger 9,5 mm Ø x 9,5 mm |
192,20 € * |
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682-F | AuSome Dual/Testobjekt, Goldpart. 117,3 nm / 27,3 nm, mont. auf Stiftprobenteller (6 mm langer Sti |
192,20 € * |
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682-K | AuSome Dual/Testobjekt, Goldpart. 117,3 nm / 27,3 nm, mont. auf Hitachi M4-Probentr. 15 mm Ø x 6 m |
192,20 € * |
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Auflösungstestobjekte auf alternativen Substraten : Zinn auf Si / Gold auf Si
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S168SI | 5 - 150 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
98,80 € * |
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S168SI-10 | 5 - 150 nm Au-C auf Si-Substrat 10 mm x 10 mm x 500 µm dick |
0,01 € * |
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Preis auf Anfrage
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S168ZSI | 30 - 300 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
124,30 € * |
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S1967SI | 10 - 100 nm Sn auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
159,80 € * |
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S1969SI | 3 - 50 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
149,80 € * |
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S1987SI | 2 - 30 nm Au-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
329,80 € * |
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S1988SI | 20 - 400 nm Sn-C auf Si-Substrat 5 mm x 5 mm x 500 µm dick |
176,00 € * |
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Mittlere Auflösung - Aluminium-Wolfram-Dendriten
Die unterschiedlichen, durch die Dendritenstruktur bedingten Abstände erlauben den Abstandstest, die topografische Anordnung der Dendriten dient der Kontrastprüfung. Das Testobjekt ist unmagnetisch, vakuumfest, elektronenstrahlkompatibel und bedarf keiner Beschichtung. Es ist besonders geeignet für den Auflösungsbereich von 25 nm bis 75 nm. Es lässt sich mit Leitsilber oder Leit-C leicht auf jedem Probenteller anbringen.
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S145 | REM-Auflösungstestobjekt mit Dendriten, unmontiert |
268,30 € * |
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PELCO-Prickly-Gold (Astigmatismus)
Dieses Testobjekt besteht aus 1000 mesh „Prickly-Gold“, das auf einem Probenteller montiert ist. Es eignet sich hervorragend zur Korrektur des Astigmatismus.
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S1968 | Prickly Gold Testobjekt, auf 12,5 mm-Stiftprobenteller (8 mm Stiftlänge) |
69,50 € * |
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S1968A | Prickly Gold Testobjekt, auf JEOL-Probenteller 10 mm Ø |
69,50 € * |
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S1968B | Prickly Gold Testobjekt, auf ISI/ABT Probenteller |
69,50 € * |
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S1968C | Prickly Gold Testobjekt, auf HITACHI Probenteller |
69,50 € * |
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S1968D | Prickly Gold Testobjekt, auf 12,5 mm-Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) |
69,50 € * |
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S1968E | Prickly Gold Testobjekt, auf JEOL-Probenteller 12,2 mm Ø |
69,50 € * |
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S1968U | Prickly Gold Testobjekt, unmontiert |
69,50 € * |
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Universal-Kalibrierstandard für REM-EDX
In Rasterelektronenmikroskopen mit energiedispersiven Röntgenanalysesystemen müssen die Vergrößerung, die Auflösung, der Primärstrom, die Lage der EDX-Spektren und die Qualität des Rückstreuelektronendetektors überprüft werden. Dafür gibt es die in diesem Kapitel beschriebenen einzelnen Testobjekte. In dem REM-Kalibrierblock (S1919) sind diese Testobjekte auf einer Messingscheibe von 32 mm Durchmesser und 5 mm Höhe zusammengefasst. Vom Anwender werden 6 Einzelstandards ausgewählt (aus der Standardliste der Firma Micro Analysis Consultants MAC in der Rubrik "Standards für die Mikroanalyse"), die in diesen Block zusätzlich eingesetzt werden.
Weiterhin gibt es die Möglichkeit eine Variante bestückt mit 7 festgelegten Standards (Mn, Cr, C, Ni, PTFE, Co, AISI 316), einem PLANOTEC Silizium-Testobjekt und einem Faraday-Käfig zu wählen (S1919-7S). Co = Traceable to NIST, AISI 316 = CRM Stainless Steel.
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S1919 | Universal-Kalibrierstandard f. REM-EDX (6 Standards Ihrer Wahl + Si-Testobjekt + Au/C + DuplexBrass) |
2.298,00 € * |
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S1919-7S | EDX-Kalibrierstandard mit 7 Standards (Mn, Cr, C, Ni, PTFE, Co, AISI316) + Si-Testobjekt + Faraday C |
1.777,00 € * |
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Referenzobjekte für Rückstreuelektronen-Detektorsysteme
Ein Elektronenmikroskop, das mit einem Rückstreuelektronen-Detektor ausgestattet ist, hat die Möglichkeit der Erzeugung von Bildern, auf welchen der Kontrast durch den Unterschied der Atomordnungszahl über die Probe bestimmt ist. Zur Überprüfung des Atomzahlkontrastes stehen jetzt drei Testobjekte zur Verfügung. Jedes davon besteht aus zwei hochreinen Elementen mit einem Unterschied der Atomzahl von Z = 1. Das Element mit der niedrigeren Atomzahl ist in Form eines Drahtes in das Element mit der höheren Atomzahl eingefügt. Diese Testobjekte sind einzeln gefasst in Hülsen von 3 mm oder 5 mm Durchmesser erhältlich oder als Teil eines Vielfachhalters.
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S1950 | Ni/Cu BSE Referenzobjekt |
355,00 € * |
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S1951 | Pd/Ag BSE Referenzobjekt |
355,00 € * |
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S1952 | Pt/Au BSE Referenzobjekt |
355,00 € * |
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S1954 | Al/Si BSE Referenzobjekt |
355,00 € * |
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DUPLEX-Referenzobjekt
Mit diesem Objekt läßt sich ein weiterer und sehr empfindlicher Atomzahl-Kontrast-Test durchführen. Es weist eine Legierung mit zwei größeren Kupfer/Zink-Phasen auf, die durch einen Atomzahl-Unterschied von 0,1 getrennt sind. Die auf dem Bild gezeigte helle Phase besitzt die Atomordnungszahl Z = 29,47, die dunkle Phase Z = 29,37. Die Aufnahme wurde mit einem Halbleiter-Rückstreuelektronendetektor gemacht.
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
S1953 | DUPLEX Referenzobjekt |
419,10 € * |
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Rückstreuelektronen-Kombistandard
Zur Beurteilung der Signale eines Rückstreuelektronendetektors werden Materialkombinationen mit bekannten Atomordnungszahlen benötigt. MAC bieten einen Standardhalter von 30 mm Durchmesser und 5 mm Höhe an, der folgende Materialien enthält:
•Messinglegierungen mit einem Atomordnungsunterschied von Z = 0,1.
• Elementreferenzen
Aluminium (Z = 13) - Silizium (Z = 14)
Nickel (Z = 28) - Kupfer (Z = 29)
Palladium (Z = 46) - Silber (Z = 47)
Platin (Z = 78) - Gold (Z = 79)
• Glaskohlenstoff
• Faradaykäfig
Artikelnummer | Artikelbezeichnung | Preis | Bild | Anzahl | |
NM231 | Rückstreuelektronen-Kombistandard |
2.096,00 € * |
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Testobjekte für die Transmissionselektronenmikroskopie
Die von Agar Scientific gefertigten Testobjekte sind weltweit für ihre Qualität und Verlässlichkeit bekannt. Sie werden nach einem optischen Prüfvorgang individuell im Elektronenmikroskop getestet. Ein Testobjekt wird ausgesondert, wenn es mehr als 5 % gebrochene Netzchenquadrate aufweist oder zu sehr verschmutzt ist bzw. unzureichende Bildqualität aufweist.